
適用于3225,50320等SMD晶體基于載盤上的檢漏測(cè)試。
工作方式:一個(gè)測(cè)試頭測(cè)試,一個(gè)吸嘴將不良品移栽到收料盤或料盒。
測(cè)試儀器:TH2681絕緣電阻測(cè)試儀器。
程序,適合任何規(guī)格陣列的載盤(需更換托板)。
測(cè)試速度: 2500 PCS/HR。
采用日本IAI機(jī)械手、松下PLC及中國(guó)臺(tái)灣WENVIEW觸摸屏控制。
良好的人機(jī)交互軟件,具備故障處理輔助功能。
壓縮空氣:4KG/CM2,電源:220V,2A。
外形尺寸:600W*600D*900H(桌面式)