簡單介紹

GD3580B型變頻介質損耗測試儀是一種*的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗。

GD3580B型是一種*的測量介質損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗*力強、測試時間（在國內同類產品中速度zui快）等特點。體積小、重量輕是我公司的第二代抗干擾介質損耗測試儀。
主要技術指標
      1、環境溫度：0 ～ 40℃（液晶屏應避免長時日照）        
      2、相對濕度：30% ～ 70%
      3、供電電源：電壓：220V±10%、頻率：50±1Hz
      4、外形尺寸：長×寬×高   500mm×300mm×400mm
      5、重量：    約18Kg          
      6、輸出功率：0.6KVA
      7、顯示分辯率：3位、4位（內部全是6位）
      8、測量范圍及輸出電壓選擇：
                 介質損耗（tgδ）：±0.00～±999%
                 試品電容容量（Cx）和加載電壓：
                 2.5KV檔:≤300nF（300000pF）            3KV檔:≤200nF（200000pF）
                 5KV檔:≤76nF（76000pF）                7.5KV檔:≤34nF（34000pF）
                 10KV檔:≤20nF（20000pF）
      9、基本測量誤差：
                 介質損耗（tgδ）：1%±7個字（加載電流20uA～500mA）
                 介質損耗（tgδ）：2%±9個字（加載電流5uA～20uA）
                 電容容量（Cx）：1.5%±1.5pF