MJ33正置明暗視場透反射金相顯微鏡是一種多用途工業檢驗用光學儀器，配置明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒"照明系統，視場清晰。可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉沫及其它各種透明或不透明工業試樣的檢驗，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器.

特點：

采用無限遠光學系統及模塊化功能設計。

長工作距離明/暗視場平場物鏡，視場大而清晰。

廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm。

粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。

內置式可切換偏光觀察裝置，起偏器可360°旋轉。

上光源采用翻蓋式12V50W鹵素燈箱，更換燈炮安全便捷，下光源采用12V30W鹵素燈，加裝散熱片。

三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可99%通光，適合暗視場顯微圖像拍攝。

作用：

1.配備明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統，為客戶提供多種觀測手段；
2.三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時可99%通光，可在暗視場下進行顯微圖像拍攝。