當(dāng)前位置：君達儀器儀表（北京）有限公司>>無損檢測儀>>涂層測厚儀>>測厚儀

測厚儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號TT230

品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：路通查看聯(lián)系方式

更新時間：2018-05-14 09:00:00瀏覽次數(shù)：122次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  無損檢測儀

硬度計

粗糙度儀

超聲波測厚儀

涂層測厚儀

測振儀

推拉力計

探傷儀

扭矩儀

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

君達儀器儀表（北京）有限公司

經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：259條

所在地區(qū)：北京

聯(lián)系人：路通（經(jīng)理）

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

TT230涂層測厚儀是超小型的渦流涂鍍層,TT230涂層主要用于測量鋁合金氧化膜以及銅鋁非磁性金屬的涂鍍層

詳細介紹

時代TT230數(shù)字式涂層測厚儀|時代集團渦流測厚儀TT230
時代TT230涂層本儀器是一種超小型的測量儀。時代涂層TT230它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測量。TT230涂鍍層可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該TT230涂層儀器體積小，測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。

時代TT230涂層的主要功能

　　可進行零點校準(zhǔn)及二點校準(zhǔn)。
　　可對測頭進行基本校準(zhǔn)。
　　設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）。可存貯和統(tǒng)計計算15個測量值。
　　具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
　　自動關(guān)機功能。
　　刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進行新的測量。
　　操作過程有蜂鳴聲提示。
　　有欠壓指示功能。
　　有錯誤提示功能。

時代TT230涂層的主要技術(shù)指標(biāo)　

　　測量原理：渦流法
　　測量范圍：1～1250μm
　　測量精度：±（3%H+1.5）μm（零點校準(zhǔn)）
　　　　　　　±[(1～3)%H+1.5] μm（二點校準(zhǔn)）

Portable Coating Thickness Gauges Model TT220 & TT230

TT220 magnetic induction measuring principle
TT230 eddy current measuring principle
Measuring modes: Single/continuous
Memory modes: Direct/batch
Onboard memory: 15
Automatic calculation: Mean/Max/Min/No./S.DEV
Error detect ability: Buzz & display
Micro printer: Can be installed
Automatic shut-off
Operating temperature: 32°F-113°F(0°C-45°C)
Power source: 2 x 3.6V(NiMH batteries)
Weight: 0.26lb (120g)
Dimensions: 150 x 53 x 22mm

Applied Materials

Gauge Model	Probe Type	Material of Coatings	Material of substrates
TT220	Ferrous	Non-magnetic	Magnetic
TT230	Non-ferrous	Insulating	Non-magnetic metal

Specifications of TT220 & TT230

Gauge Model	Measure range (µm)	Resolution (µm)	Tolerance (µm)		Min curvature radius (mm)		Min measure area (mm)	Critical substrate thickness (mm)
Gauge Model	Measure range (µm)	Resolution (µm)	1 point calibration	2 point calibration	convex	concave	Min measure area (mm)	Critical substrate thickness (mm)
TT220	0-1250	1	±(3%H+1)	±[(1~3)%H+1]	1.5	9	Ф7	0.5
TT230	0-1250	1	±(3%H+1)	±[(1~3)%H+1]	1.5	9	Ф7	0.5