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鉑悅儀器（上海）有限公司 廣州辦事處
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開槽臺式微區XRF光譜儀M2 BLIZZARD
M2 BLIZZARD是布魯克公司推出的一款微區X射線熒光光譜儀， 依據ASTMB568和DIN/ISO 3497，對材料成分和多層涂層厚度進行無損分析。
采用開槽設計，非常適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品，例如大型印刷電路板。
該儀器采用全新的、的XSpect Pro軟件進行控制。
PCB 分析的理想解決方案
主要特性：
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開槽臺式微區XRF光譜儀M2 BLIZZARD
M2 BLIZZARD是布魯克公司推出的一款微區X射線熒光光譜儀， 依據ASTMB568和DIN/ISO 3497，對材料成分和多層涂層厚度進行無損分析。
采用開槽設計，非常適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品，例如大型印刷電路板。
該儀器采用全新的、世界的XSpect Pro軟件進行控制。
PCB 分析的理想解決方案
主要特性：
技術參數
M2 BLIZZARD的兩種探測器選項。 可選用比例計數器（PC）或 高分辨率硅漂移探測器（SDD）
參數 | 規格 |
激發 | 微焦點，高性能，帶側窗，鎢靶 |
高電壓 | 50 kV，50W |
探測器 | 大面積正比計數器，感應面積1100 mm 2， 能量分辨率 < 950eV （Mn-Kа） |
選配探測器 | 高性能Peltier冷卻XFlashR硅漂移探測器， 感應面積30mm2，能量分辨率 <150 eV （Mn-Kа） |
光斑尺寸 | 固定或4個自由切換，?0.1到1.5mm 其他準直器：例如槽式 |
樣品視圖 | 高分辨率彩色攝像系統，放大倍數~20倍 |
樣品臺 | 手動塑料樣品托盤 Z軸自動聚焦，行程: 30mm |
定量分析 | 總體分析：基于標樣的經驗系數法模式， 無標樣 的FP法（基本參數法）模式 鍍層分析：FP-基本參數法模式 |
供電 | 110/230 VAC，50/60 Hz，zui大功率120W |
尺寸（寬x深x高） | 1055 x 688 x 430 mm |
重量 | 75kg |
依據 ASTM B568 和 DIN/ISO 3497 標準進行分析
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