大腦皮質厚度與認知能力相關

麻省總醫院的Bradford Dickerson博士等人近日在《神經學》（Neurology）雜志上報道稱，大腦皮質變薄與認知能力下降有關。該報道中研究人員觀察了大腦的9個區域，發現這些區域大腦皮質厚度較低而認知能力正常的患者，其認知能力在3年后有所下降。

此前研究人員發現了一種名為ADsig的生物標記，可用來標記大腦皮質的厚度，并證實大腦皮質變薄是輕度阿爾茨海默病性癡呆的可靠標記，并能預測阿爾茨海默病患者的認知障礙。

該研究中，通過MRI檢查受試者的腦皮質厚度，并將159名認知能力正常者依照ADsig分為3組。19名腦皮質厚度至少比平均水平低一個標準差者被認為是發生認知障礙的高風險者，稱為低ADsig組；另外116名受試者為平均ADsig組，其腦皮質厚度在平均水平上下一個標準差范圍內；zui后24名為高ADsig組，其腦皮質厚度比平均水平至少高一個標準差。

3年后，125名受試者的測試數據被認為有認知能力改變，其中包括：9名受試者的綜合測試結果顯示有認知能力下降；高危險組的14名受試者中有3名發生了認知能力下降，占21.4%；平均ADsig組的90名受試者中有6名發生了認知能力下降，占6.6%；高ADsig組的21名受試者其認知能力均沒有下降。Logistic回歸分析發現，基線ADsig水平與認知能力下降的相關性較強，其腦皮質厚度每下降一個標準差，認知能力的下降程度約為3倍。

作者稱，該研究為檢測發生阿爾茨海默病的風險提供了新的方法，在老年癡呆疾病的檢測及預后判斷中具有重要意義。