荷蘭內梅亨大學醫(yī)學中心的一個研究小組對數(shù)千個de novo突變進行薈萃分析，鑒定出10個智力殘疾的候選基因，這些突變是從兩千多個患病家庭的外顯子組序列中鑒定出的。這項研究成果于8月1日發(fā)表在《Nature Neuroscience》上。

在這項研究中，研究人員對820名患有輕度至重度智力殘疾的兒童及其父母進行外顯子組測序，隨后綜合了已發(fā)表研究中其他1,300個家庭的序列信息。當他們分析這些家庭中的2,637個de novo突變時，他們發(fā)現(xiàn)10個基因與智力殘疾相關。

研究小組以820名患病兒童及其父母為研究對象，利用安捷倫的SureSelect技術富集了基因組的蛋白編碼區(qū)域，并利用Illumina的HiSeq儀器進行測序。

在平均覆蓋深度達75倍的外顯子組中，研究人員發(fā)現(xiàn)了1,083個可疑的de novo突變，影響到915個基因?？紤]到基因特異的突變率，他們發(fā)現(xiàn)18個已知的智力殘疾基因，似乎不成比例地受到de novo突變的影響。

為了梳理出新的候選基因，研究小組剔除了已知基因中含有突變的個體，并重復分析，將頻繁發(fā)生的de novo突變縮小到4個基因上：DLG4、PPM1D、SOX5和TCF20。此外，研究人員利用已發(fā)表研究中的數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)了另外6個候選基因。

在薈萃分析中，研究人員對1,471名個體中的1,235個基因進行分析，發(fā)現(xiàn)除了上面的4個基因之外，還有6個基因：RAC1、SMAD6、SON、TLK2、TRIP12和SYNCRIP，它們也包含許多功能喪失的de novo突變。

研究小組指出，一些基因中的de novo突變似乎產生了重疊的臨床特征，包括兩名兒童中TLK2基因的突變帶來了相似的面部畸形。新分析中受到de novo突變影響的許多基因或通路與其他疾病的關聯(lián)基因重疊，包括自閉癥譜系障礙或其他神經發(fā)育疾病。

“我們的研究強調了de novo突變對各種神經發(fā)育表型的影響，”內梅亨大學醫(yī)學中心的人類遺傳學研究人員Christian Gilissen及其同事寫道，并指出“大量的罕見發(fā)育障礙基因仍有待確定”。

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