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日立熱場掃描電鏡SU7000
日立熱場掃描電鏡SU7000
SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統，可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標配超大樣品倉，增設了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
日立熱場掃描電鏡SU7000
主要特點：
在相同WD的條件下，可同時實現二次電子、背散射電子觀察與X射線分析
多可同時實現6通道檢測與顯示
可配置18個附件接口
應用領域：
金屬
復合材料
半導體器件
EBSP分析
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