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日本shinyei高露點測量系統HDMS-02高露點測量系統 HDMS-02 是一種測量系統產品，它集成了 DewStar S-3 系列鏡面冷卻露點儀，可在較寬...

日本shinyei低露點型鏡面冷卻露點儀DewStar S-2系列鏡面冷卻露點儀（鏡面冷卻露點儀、鏡面露點儀、光學露點儀） DewStar S-2 在干燥室內測...

日本shinyei標準鏡面冷卻露點儀DewStar S-1 系列鏡面冷卻露點儀（mirror-cooled dew point meter，鏡面式露點儀，光學露...

日本shinyei分體式鏡面冷卻露點儀DewStar R-1 系列DewStar 系列是被“JIS-Z-8806/濕度測量法"認定為標準濕度計的高精度、高可靠性...

日本yutaka微球外徑檢測裝置YSW-2R我們在一家精密零件檢測設備制造商，如滾輪外徑分選機、激光分選機、CCD光學分選機等經過10年的研發，介紹了超精密滾輪...

日本YAMABUN山文電氣在線激光測厚裝置NME-RM, NSM-RMPP/PS/多層/薄膜/片材的理想選擇以非接觸方式測量厚度而非基重座椅制造過程中的全寬測量...

日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S實現高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）不易受溫度變化的影響可...

日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2高測量分辨率由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。即使表面狀況粗糙，也可以進...

日本filmetrics對準自動膜厚測量系統F60F60自動測繪膜厚測量系統是F50的高duan機型，具有缺口檢測、自動基線功能和互鎖機制。只需將樣品放在載物臺...

日本filmetrics臺式膜厚測量系統F3-CSF3-CS是測量小樣品的測量系統。與測量臺集成的測量系統使其易于攜帶。只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺上即可...

日本filmetrics自動膜厚測量系統F50F50自動測繪膜厚測量系統是將基于光學干涉原理的膜厚測量功能與自動高速載物臺相結合的系統。以過去無法想象的速度測量...

日本filmetrics板厚測量系統F3-sX可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。通過安裝初開發的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達 3 mm 的厚膜。

日本filmetrics反射/透射/薄膜厚度測量系統F10-RTF10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統。可同時測量反射率和透射率，并可輕...

日本filmetrics膜厚測量系統F20一種行業標準、低價、多功能的臺式薄膜厚度測量系統，已在安裝了 5,000 多臺。它可用于從研發到制造現場在線測量的廣泛...

日本filmetrics 3D 表面形狀測量系統Profilm 3D它是一個使用白光干涉技術的系統，可以無接觸地測量包括臺階和粗糙度在內的三維形狀。Profil...

日本電測densoku渦流膜厚儀DMC-211高速和可操作性短時間、無損測量是 99% 檢測的理想選擇?非破壞性測量和1秒內100％檢查的理想選擇?使用個人計算...

日本電測densoku電解膜厚儀CT-3輕巧緊湊的機身高操作性和功能性支持各種電鍍測量? 機身重量為 3.0 kg 的輕巧緊湊的機身? 可從任何電鍍范圍進行測量...

日本電測densoku電解式膜厚儀GCT-311Windows 規格，全功能可實現多達 5 層的多層薄膜測量- 使用個人計算機提高可操作性和增強功能 - 使用W...

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