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YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-250I高照度鹵素強光燈大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

YP-150I表面檢查燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

YP-150I目視檢查燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

YP-150I鹵素強光燈用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF（彩色...

日本sena硅玻璃表面異物檢查燈185LE高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF（彩色...

日本sena玻璃表面劃痕檢查燈185le高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF（彩色濾...

日本sena晶圓表面清潔度檢查燈185LE高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF（彩色...

日本sena電子行業用檢查燈185LE 光學測量儀高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、C...

日本sena電子行業用鹵素燈185LE 光學測量儀高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、C...

日本sena表面檢查用鹵素燈185LE高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF（彩色濾光...

0518-P隔膜透氣度測試儀與H型一樣，本機將一定條件下標準面與試件表面之間的空氣流量轉換成壓力并進行測量。本數顯型采用電子壓力表代替水柱式空氣壓力表，轉為數字...

0518-P鋰電隔膜透氣度測試儀與H型一樣，本機將一定條件下標準面與試件表面之間的空氣流量轉換成壓力并進行測量。本數顯型采用電子壓力表代替水柱式空氣壓力表，轉為...

電池透氣膜透氣度儀0518-P與H型一樣，本機將一定條件下標準面與試件表面之間的空氣流量轉換成壓力并進行測量。本數顯型采用電子壓力表代替水柱式空氣壓力表，轉為數...

電池行業用透氣度儀0518-P與H型一樣，本機將一定條件下標準面與試件表面之間的空氣流量轉換成壓力并進行測量。本數顯型采用電子壓力表代替水柱式空氣壓力表，轉為數...

日本k-axis面包模型分析儀AR-01 表面張力儀特別是對于面包食品行業，“縱橫比/剛度"的計算可以立即在書上顯示。通過將其應用于研究，開發和質量控制，新的研...

日本k-axis吐司比容積測定儀AR-01特別是對于面包食品行業，“縱橫比/剛度"的計算可以立即在書上顯示。通過將其應用于研究，開發和質量控制，新的研究和控制領...