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上海津崎電子科技有限公司
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號TH-2828
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地上海市
聯(lián)系方式:雒茂森先生查看聯(lián)系方式
更新時間:2024-05-14 10:30:00瀏覽次數(shù):86次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線同惠儀器(TONGHUI)數(shù)字電橋TH2828性能特點(diǎn)阻抗測量范圍*寬的自動平衡電橋技術(shù)四端對端口配置有效消除測試線電磁耦合基本準(zhǔn)確度0
同惠儀器(TONGHUI)數(shù)字電橋TH2828
性能特點(diǎn)
簡要介紹
TH2828/TH
TH2828/TH
計算機(jī)通訊及測試過程記錄提供了條件。
TH2828/TH
廣泛的測量對象
無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
半導(dǎo)體元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。
介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。
磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評估。
半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性。
液晶材料:液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。
多種元件、材料特性測量能力
揭示電感器件的多種特性
TH2828/A**的性能和20Hz-1 MHz的測試頻寬可以**地分析磁性材料、電感器件的性能。
使用TH10301選件的100mA DC的偏置電流可以**測量高頻電感器件、通訊變壓器,濾波器的小電流疊加性能。使用TH1775電流疊加裝置,可使偏置電流達(dá)
**的陶瓷電容測量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征,同時其容量、損耗施加之交流信號會產(chǎn)生明顯的變化。
儀器具有寬頻測試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度,六位分辨率和自動電平控制(ALC)功能等,中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測試需要。
液晶單元的電容特性測量
電容-電壓(C-Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法,常規(guī)儀器測量液晶單元的C-Vac特性遇到一個問題是*大測試電壓不夠。
使用TH10301選件可提供分辨率為1%及*高達(dá)20Vms的可編程測試信號電平,使它能在*佳條件下進(jìn)行液晶材料的電容特性測量。
半導(dǎo)體材料和元件的測量
進(jìn)行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評價時,需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù),這些可從C-Vdc特性的測量結(jié)果推導(dǎo)出來。
20HZ-1 MHz的測量頻寬及高達(dá)40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。
為了測試晶圓上的半導(dǎo)體器件,需要延伸電纜和探頭,儀器的
各種二極管、三機(jī)管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內(nèi)容。
適應(yīng)多種領(lǐng)域的測試需要
新材料、新元件的研究開發(fā)
TH2828/TH
提高生產(chǎn)效率
TH2828/TH
內(nèi)建比較器、電纜長度補(bǔ)償、Handler接口可方便地用于自動測試系統(tǒng)。
內(nèi)建存儲器及USB外存裝置可大大減小操作時間并降低聽任錯誤。
應(yīng)用廣泛的品質(zhì)檢驗(yàn)手段
儀器具備的20Hz-1 MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測需要。
TH10301 及 TH1775的配置解決了器件直流偏置測量的要求。
提供徑向、軸向、SMD元件的多種測試夾具配置。
用戶友好的操作界面
簡化的前面板操作
儀器配置的320x240點(diǎn)陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測量結(jié)果,各種設(shè)定狀態(tài)一目了然,交互式軟鍵大大簡化了儀器操作。
非易失性存儲器以保存多種儀器設(shè)置
TH2828/A提供有內(nèi)部非易失性存儲器可保存20組儀器測量設(shè)置,TH2828還具有外部USB存儲卡進(jìn)行數(shù)據(jù)保存及多臺儀器統(tǒng)一進(jìn)行數(shù)據(jù)設(shè)置/調(diào)用。這將減小參數(shù)的設(shè)置錯誤并提高用戶使用效率。
靈活的數(shù)據(jù)通訊方式
TH2828/TH
技術(shù)參數(shù):
比較器功能 | |||
比較器 | 測量的參數(shù)值可以分選為10檔 | ||
計數(shù)值 | 0 — 999999 | ||
列表掃描比較 | 掃描列表中的每個點(diǎn)都可以輸出HIGH/IN/LOW信號 | ||
輸入保護(hù) | |||
當(dāng)充電的電容連上測試端時,內(nèi)部保護(hù)電路工作。 | |||
其他功能 | |||
存儲功能 | 外部非易失存儲器可以保存20個儀器的設(shè)置文件 | ||
GPIB, RS | 所有的儀器控制參數(shù),測量值,比較值和掃描列表都可以通過GPIB(TH | ||
選件 | |||
TH10301 | 功率放大/直流偏置 | ||
TH10401 |
| ||
TH10202 | Handler 接口 | ||
準(zhǔn)確度(細(xì)節(jié)請查看操作手冊) | |||
測試環(huán)境 | 熱機(jī)時間 | ≥30 分鐘 | |
環(huán)境溫度 | 23±5oC | ||
測試信號電平 | 0.3Vrms – 1Vrms | ||
清零 | 開路和短路 | ||
測試線長度 | |||
|Z|, |Y|, L, C, R, X, G, B | ±[A+(Ka+Kb+Kc)×100] (% of reading) | ||
D | ±[Ae/100](D的優(yōu)良值) | ||
Q (When Qx×De<0.1) |
| ||
θ | DEG | ±[Ae/100](degress 優(yōu)良值) | |
RAD | ±[(180/π)×(Ae/100)](degress 優(yōu)良值) |
一般技術(shù)要求:
工作溫度, 濕度 | |
電源要求 | 198 V — 242 V AC,99 V-121 V AC 47.5 Hz — 63 Hz |
功耗 | ≤100 VA |
尺寸(W×H×D) | |
重量 |
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