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詳細介紹
檢測光譜儀優勢
★ 體積小，測量速度快，毫秒級
★ 樣品放置方便，可隨意擺放在取樣臺上，不需要做任何調節
★ 重現性高，任何時候對同一樣品測試都可以保證*的重現性
★ 可測量任意形態和任意大小的樣品
★ 抗干擾強，外界光線對測量影響極小
★ 開放式珠寶數據庫
★ 強大的譜圖處理功能
GEM-3000檢測光譜儀是一套基于反射測量的全波長光譜分析儀，可快速準確地對珠寶真偽和是否染色進行鑒定。
Sphere-3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率，適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量，還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
技術參數
型號 | GEM-3000（II型） | GEM-3000（III型） |
檢測范圍 | 220-1100nm | 220-1000nm |
信噪比（全信號） | 450：1 | 1000：1 |
單次測量時間 | <100ms | |
穩定性 | >99% | |
樣品前處理 | 無 | |
樣品損壞 | 無 | |
測量采樣方式 | 積分球和反射探頭 | |
數據庫 | 開放式珠寶數據庫，用戶可自行管理 | |
樣品尺寸 | 可直接檢測任意形狀的小樣品，大件樣品可增加探頭進行檢測 | |
信號接口 | USB2.0 | |
操作系統 | Windows XP/Vista/Windows7 | |
產品尺寸 | 434mm*320mm*285mm | |
產品重量 | 6Kg | |
電源及功率 | 220V-50HZ /250W | |
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