植物冠層系統的測定一直以來都是個難題，費時費力，研究植物光合效率與其生長特點之間的關系也是難上加難，當務之急，恒美科技推出了一款能夠精準測定植物冠層系統的植物冠層分析儀，那這個植物生理儀器對測定植物數據有什么優勢？下面聽恒美科技小編慢慢道來！
先來說說直接測量和間接測量都是如何進行的。直接測量是通過想測定所有葉片的葉面積，再計算LAI，因要剪下全部待測葉片，多數屬于毀壞性測量，或至少會干擾冠層，葉片角度的分布，從而影響數據的質量，直接測量費時、費力。間接測量就是利用冠層結構與冠層內輻射與環境的相互作用這一定量耦合關系，通過植物冠層分析儀來測定植物冠層的相關數據，通過植物冠層的轉移模型來推斷LAI。
植物冠層分析儀是通過處理影像數據文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數據的相關信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。因此與直接測量法相比，采用植物冠層分析儀測量冠層數據，可以避免直接測量法所造成的大規模破壞植被的缺點，而且采用儀器進行測量操作，具有方便快捷，不受時間限制，獲取數據量大等優點，非常適合用于現代農業科研研究當中，因此目前植物冠層分析儀被廣泛應用于農業、園藝、林業領域有關栽培、育種、 植物群體對比與發展的 研究與教學工作當中，并在實際工作中發揮了重要的作用。
綜上所述，在測定中，如果使用植物冠層分析儀等專業的測量儀器，不僅會讓研究工作更省心、效率更高，而且測定的數據結果也更加準確，為農業生產提供更加科學有效的依據。
