JX-2000 A顯微顆粒圖像分析儀包括光學顯微鏡、數字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。因為粉體形態各異，在借助激光粒度儀測試的同時，選用JX-2000A型圖像分析儀，可以更準確的直觀粒度形貌，控制好產品質量。

JX-2000 A顯微顆粒圖像分析儀顆粒圖像測試原理：

顆粒在圖像儀上成像，組成圖像的zui小單位是像素，每個像素有特定的尺寸。通過對顆粒數量和每個顆粒所包含的像素數量的統計，計算出每個顆粒的等面積圓的直徑，以及長徑比等，再對所有的顆粒進行統計，從而得到粒度分布等信息。

圖像分析的主要過程是：

樣品經顯微鏡放大成像，攝像頭攝得清晰顆粒形貌圖像傳輸到電腦，在電腦上直接觀察粉體顆粒的形貌，通過專有軟件計算分析，得到顆粒個數、面積、周長、直徑、體積、長徑比、短徑比、圓度系數等分布數據及圖像。同時提供D10、D50、D90、D97、平均粒徑、表面積等數據分布圖表。   

應用領域

金剛石、碳化硅、硅灰石、石英粉、*、石墨、鈷酸鋰、碳化硼、白剛玉、氧化鈰云母粉、碳粉、金屬粉等各種礦粉：

玻珠、水泥、藥品、食品、顏料、粉塵、催化劑等各種粉體或漿料。

還可以用于驗證其他粒度測試的手段和方法。

技術參數