SIM（Structured Illumination Microscopy）結構照明型超高分辨率顯微鏡以激光干涉條紋照明為基礎，通過高靈敏度相機采集莫爾條紋圖像，通過傅立葉變換方式重構超分辨率圖像。

Ø  光學顯微鏡的分辨率極限本質上的原因是“高空間頻率的發光點通過衍射發生干擾，其一級衍射信息不能被物鏡收集，從而導致高空間頻率信息的丟失”，所以常規方式下，圖像檢測器相對于高空間頻率的發光信息處于一種“散光”狀態（如同人眼散光的效果），“看不清”小于200nm的微細結構，這就是阿貝衍射極限理論。SIM顯微鏡可以條紋照明突破衍射極限，使成像的橫向分辨率達到100nm左右，縱向分辨率達到300nm左右。

超高分辨率熒光顯微鏡

Ø  尼康N-SIM超高分辨率顯微鏡以旗艦級倒置顯微鏡Ti-E為基礎，引入2D-SIM、TIRF-SIM、3D-SIM三種結構照明方式，實現了三種方式下的超分辨率熒光成像。N-SIM顯微鏡的橫向和縱向分辨率均達到了傳統顯微鏡的兩倍！TIRF-SIM更實現了Z軸上100nm的“光切”效果！

Ø  N-SIM獲得了2011年生物儀器“TOP”之一的殊榮，生物影像技術的前沿應用。

超高分辨率熒光顯微鏡主要應用：精細熒光共定位、細胞器生物學、細胞骨架等。