100 LTE 綜合測試儀

用于測試無線設(shè)備RF、基帶和協(xié)議層，支持多種無線接入技術(shù)的LTE網(wǎng)絡(luò)仿真器。

LTE FDD與TDD信令網(wǎng)絡(luò)模擬

開發(fā)與Call-Box工作模式

適用于廣泛的RF測試

完整的RF參數(shù)測量套件

豐富的預(yù)配置36.521 RF測試?yán)?/p>

TTCN-3支持

頻率范圍達(dá)6 GHz，涵蓋所有LTE頻段和帶寬

協(xié)議記錄與分析

支持多小區(qū)與Inter-RAT切換

多種無線接入技術(shù) (RAT) 測試: LTE、eHRPD、1xRTT、GERAN、HSPA和TD-SCDMA

功能測試

端到端IP分組數(shù)據(jù)測試

集成衰落/AWGN選件

MIMO 4x4 – 即將發(fā)布

采用遠(yuǎn)端API自動測試

嵌入基于Windows® XP的控制器PC

*的12"觸摸屏GUI

LTE在有訊號模式支持功能和應(yīng)用測試

測試儀具有用來描述LTE移動設(shè)備性能的所有關(guān)鍵測量功能，無論無線電接口，還是協(xié)議棧，包括PCDP和IMS層。利用7100網(wǎng)絡(luò)仿真模式，可以準(zhǔn)確評估設(shè)備的端到端性能，以及正確的空閑模式和連接模式行為。在有訊號 (Call Box) 模式便于測試活動管理人員定義測試順序并利用7100觸摸屏GUI進(jìn)行測試。

 7100 LTE綜合測試儀

LTE物理層測試與RF參數(shù)測試

7100矢量信號分析儀/矢量信號發(fā)生器 (VSA/VSG模式) 可對LTE發(fā)射機(jī)和接收機(jī)性能進(jìn)行綜合RF參數(shù)測試。FDD和TDD工作模式可選擇大量基于3GPP 36.521定義的LTE RF測試?yán)?/p>

實(shí)際條件下進(jìn)行數(shù)據(jù)流量測試

7100集成LTE基帶衰落、AWGN和內(nèi)置RRM測試功能，可模擬實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下各種實(shí)際信號條件。采用創(chuàng)新的基于軟件定義的無線電技術(shù)不僅有助于降低測試環(huán)境增加衰落模擬測試的成本，而且可在設(shè)計(jì)過程中提前完成測試，減少后期重新設(shè)計(jì)的費(fèi)用，降低內(nèi)場實(shí)驗(yàn)成本并縮短時間。

 7100 LTE綜合測試儀

切換與多種無線接入技術(shù)測試

7100 LTE數(shù)字無線電測試儀可模擬無線接入技術(shù)之間的系統(tǒng)選擇以及系統(tǒng)重選程序。LTE與任何支持的無線標(biāo)準(zhǔn)之間的切換可通過一臺7100無線電測試儀來完成。系統(tǒng)擴(kuò)展功能還支持非LTE標(biāo)準(zhǔn)、2G和3G之間的Inter-RAT切換。

自動化測試開發(fā)環(huán)境

7100配有開放式應(yīng)用編程接口 (API)，便于全面控制測試腳本的開發(fā)。7100 BSE命令行界面可以精細(xì)控制L1/L2層，以及整個協(xié)議棧的操作。BSE應(yīng)用編程界面通用功能可用來配置和控制RRC/NAS層、生成測試情景、捕獲參數(shù)測量結(jié)果并控制記錄。