XDV-SDD臺式測厚儀

XDV-SDD型儀器是FISCHER產品中性能較強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器（SDD）。50mm²的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外，儀器還配備了各種不同的濾波片，從而能為不同的測量任務建立優(yōu)化的激發(fā)條件。

特點：

·         配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量較薄的鍍層

·         耐用的設計結構，能以出色的*穩(wěn)定性用于連續(xù)測量

·         可編程XY平臺和Z軸，用于自動化連續(xù)測量

·         擁有實時的視頻顯示和輔助激光點，使得樣品定位變得快速而簡便

臺式測厚儀應用：

鍍層厚度測量

·         測量薄鍍層，如電子和半導體產業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層

·         測量汽車制造業(yè)中的硬質涂層

·         光伏產業(yè)中的鍍層厚度測量

材料分析

·         電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質（如重金屬）進行鑒別

·         分析黃金和其他貴金屬及其合金

·         測定功能性鍍層的組分，如NiP鍍層中的P含量

蘇州優(yōu)儀惠測儀器有限公司經(jīng)過長年的實踐積累，廣泛的廠家合作，具備了一支在材料分析儀器領域從業(yè)多年的專家隊伍，能為客戶提供售前咨詢、設計選型、安裝調試、售后保障等一站式服務。主要服務產品有：手持式光譜儀、火花直讀光譜儀、材料拉伸試驗機、沖擊試驗機，試驗機，三坐標，金相顯微鏡等產品。