SUNPLUS SP-BS-1908黑點檢測儀
SUNPLUS 黑點檢測儀的用途
按相關國家標準分析樹脂片或顆粒的雜質黑點的大小、數量，以及黑點顆粒占比數。
適用于透明、半透明、不透明的膜片、顆粒，如PP、PE、PVC、PPS 等等。
也適用薄膜等透明體的黑點和內在疵點的檢測和分析。
SUNPLUS SP-BS-1908黑點檢測儀的技術指標
1. 測量規格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按選用的標準，可在軟件界面選定。
2. 最小檢測目標： 0.1mm
3. 檢測精度： 小于0.035mm
4. 檢測面積：不小于200×200mm
5. 器皿大小：200mm×200mm 凈面積，用于顆粒黑點檢測。
6. 放大倍數：>20 倍
7. 光密度:不小于6000 流明
8. 光源要求: 24V/60W
9. 供電電源：220V,50HZ
10.外形尺寸：約459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)
儀器功能特點
1. 測量黑點的大小和數量,以及黑點顆粒占比數。 SP-BS-1908 型 黑點檢測儀
2. 可提供黑點、損壞顆粒，以及膜片質地紋路的分布圖譜。
3. 黑點或膜片質地分布可放大和縮小。
4. 被測目標可分類計數和統計。
5. 按適用的標準自動生成檢測報告。
6. 報告和圖譜可打印可儲存。
7. 進樣方向與屏幕顯示的走向一致，友好的界面視覺感。
8. 顆粒以透明器皿為載體，批次檢測。
9. 透明薄膜直接平鋪在檢測平臺上進行檢測，無需對薄膜作黑化或貼紙處理。
儀器的配置
☆ SP-BS-1908M 雜質黑點檢測儀
☆ 標準板
☆ 透明器皿 (測顆粒用)
☆電腦工作站
☆ 應用軟件
