簡介：
發射率測量儀TSS-5X-3是一款用于測量樣品在室溫下發射率的儀器。它以數字方式顯示發射率值，操作簡單方便。TSS-5X-3廣泛應用于空間、半導體和核電等領域，幫助量化材料表面處理的微小差別。

主要特點：

1. 表面態概率轉換：通過了解發射率，可以提高加熱設備的輻射效率，設計強調散熱和隔熱的材料，節省能源。

2. 發射率測量原理：TSS-5X-3使用紅外檢測的反射能量測量方法，測量波長范圍為2～22μm。

3. 寬廣測量范圍：TSS-5X-3測量范圍為發射率0.00-1.00，準確率評估在滿量程的±1%。

4. 具備樣品溫度控制： TSS-5X-3在室溫下進行測量，無需加熱樣品，樣品溫度范圍為10-40℃。

5. 高清晰顯示：測量值通過LED數字顯示以小數點后第二位的精度呈現。

6. 多種輸出方式：提供0-0.1V、0-1V和滿量程輸出。

技術規格：

• 模型：TSS-5X-3

• 測量方法：使用紅外檢測的反射能量測量方法

• 測量波長范圍：2～22μm

• 測量范圍：發射率0.00-1.00

• 準確率評估：滿量程的±1%

• 測量面積：Φ15mm

• 測量距離：12mm（檢測頭柱固定）

• 樣品溫度：10-40℃（室溫）

• 測量值顯示：LED數字顯示（顯示至小數點后第二位）

• 輸出：0-0.1V、0-1V、滿量程

• 工作溫度/濕度范圍：10~45℃/35~85℃（無凝結）

• 電源/電力：AC100-240V，50/60Hz，30W（不含電源線）

• 尺寸/質量：檢測頭：Φ51 x 137Lmm，0.6kg；測量單元：156H x 306W x 230Dmm，5.0kg

• 配件：發射率標準件存放盒：84H x 238W x 185Dmm，1.1kg；發射率標準件：0.06（鏡面）、0.97（黑體），各存放1個

結語：
發射率測量儀TSS-5X-3是一款便捷的工具，可用于測量樣品在室溫下的發射率。它通過量化材料表面處理的微小差別，為空間、半導體和核電等領域的研發和生產提供支持。TSS-5X-3具備簡單易操作的特點，以數字方式顯示發射率值，并提供多種輸出選項。儀器準確度高、測量范圍寬廣，可滿足不同應用需求。