黃生
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日本rika接觸探針
日本rika接觸探針
用于細間距檢查
它主要用于半導體晶圓檢查，目前支持的間距為110μm。另外，可以支撐多種柱塞材料。
■高頻
它用于半導體檢查，具有與器件加速相對應的出色RF特性，目前已縮短至1.6 mm。另外，可以處理多種柱塞材料。
■用于高溫
為了滿足可靠性測試中探針的高耐熱溫度要求，我們目前擁有與175°C兼容的HOTPIN系列。此外，我們正在進行進一步的高溫兼容性開發，這對于車載設備檢查是有效的。
■對于開爾文
它用于4端子測量，以實現可靠的探針接觸，并實現最小探針直徑φ0.15mm。另外，可以處理多種柱塞材料和形狀，從而實現窄節距接觸。
■適用于大電流
特殊的結構實現了低電阻和大電流測量。
我們正在促進每個螺距的探頭標準化，以實現更低的價格和更短的交貨時間。我們建議將其與IC插座固定裝置組合使用。
- 間距為0.4mm
- 間距為0.5mm
- 間距為0.65mm
- 間距為0.8mm
- 間距1.0mm
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