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日本反射/透射/薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)F10-RT
F10-RT 是一款集成了測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)。可同時(shí)測(cè)量反射率和透射率，并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。
只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接，無(wú)需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)，無(wú)需復(fù)雜設(shè)置，而且設(shè)置非常簡(jiǎn)單。
主要特點(diǎn)
集成測(cè)量單元和測(cè)量臺(tái)的緊湊型臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)
光譜范圍廣，可選擇多種光源反射率和透射率同時(shí)測(cè)量，膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)時(shí)間記錄的相機(jī)測(cè)量位置放個(gè)樣品就行了。無(wú)需調(diào)整光學(xué)元件，非常容易設(shè)置
主要應(yīng)用
| 平板 | 聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學(xué)膜 |
|---|---|
| 光學(xué)鍍膜 | 玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質(zhì)涂層。 |
| 薄膜太陽(yáng)能電池 | CdTe、CIGS、非晶硅等 |
產(chǎn)品陣容
| 模型 | F10-RT -紫外線 | F10-RT | F10-RT -近紅外 | F10-RT -近紅外 | F10-RT -UVX |
|---|---|---|---|---|---|
測(cè)量波長(zhǎng) 范圍 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm | 380 – 1050nm | 190 – 1700nm |
膜厚測(cè)量 范圍 | 1nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 150μm | 15nm – 150μm | 1nm – 150μm |
準(zhǔn)確性 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | ± 0.2% 薄膜厚度 | ||
| 1納米 | 2納米 | 3納米 | 2納米 | 1納米 | |
光源 | 氘· 鹵素 | 鹵素 | 氘· 鹵素 | ||
環(huán)保在線