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Fidas®U-SMPS通用掃描遷移率粒徑譜儀

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產(chǎn)品簡介

Palas®SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀是*的納米顆粒測量系統(tǒng)，可測量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，不僅能夠提供準(zhǔn)確可靠的粒徑分析和計(jì)數(shù)功能，而且高達(dá)256原始通道能夠?qū)崿F(xiàn)高粒徑分辨率。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品特點(diǎn):

集成X射線電離功能的通用掃描遷移率粒度儀
適用于8 ? 1200 nm的各種應(yīng)用
使用單顆粒分析測量PM2.5/PM10
適用于108 顆粒/ cm3 的濃度
跟其他制造商的DMA 和納米顆粒計(jì)數(shù)器通用
7 英寸觸摸屏和GUI 直觀操作，圖形顯示測量結(jié)果

產(chǎn)品概述:

Fidas®U-SMPS通用掃描遷移率粒徑譜儀

Palas® 通用掃描遷移率粒徑譜儀（U-SMPS）可提供兩種版本。長分類柱（2050X / 2100X / 2200X 型號）可以確定8 至1200 nm的粒徑分布。該系列已經(jīng)集成了X射線源作為中和器，代替放射性中和器（例如使用Kr-85），優(yōu)點(diǎn)是在運(yùn)輸過程中無需遵循針對放射源的要求。Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個(gè)分類器，可根據(jù)氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應(yīng)的氣溶膠顆粒并傳送到出口。然后通過冷凝顆粒計(jì)數(shù)器（例如UF-CPC）對這些顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)。三種可用的UF-CPC型號可在各種濃度范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)的單顆粒計(jì)數(shù)。

Palas 使用了由Wiedensohler 教授（IfTLeipzig，德國）開發(fā)的演算算法，將測量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為U-SMPS的顆粒分布。U-SMPS使用圖形化用戶界面并在觸摸屏上進(jìn)行操作。一次粒子分布掃描可以在短短30秒之內(nèi)執(zhí)行，并且每十進(jìn)制多達(dá)64 個(gè)尺寸通道。在掃描期間，DEMC分類器中的電壓連續(xù)變化，從而導(dǎo)致每個(gè)尺寸通道的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)效率更高。（可達(dá)10 6 顆粒/cm3 ）進(jìn)行監(jiān)測。

Palas®U-SMPS 支持DMA，CPC和其他制造商的氣溶膠靜電計(jì)。 U-SMPS對顆粒物準(zhǔn)確的尺寸確定和可靠性能極其重要，尤其是對于校準(zhǔn)來說。所有組件都必須通過嚴(yán)格的質(zhì)量保證測試，并且必須內(nèi)部組裝。選配的干燥器（例如硅膠，Nafion）可以去除顆粒中的水分。雙極中和劑（XRC 049）用于確保氣溶膠電荷分布符合預(yù)定。在DEMC的入口處需要一個(gè)撞擊器以去除大于分類器尺寸范圍的顆粒。

關(guān)鍵詞：粒度儀顆粒計(jì)數(shù)器

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