儀器照片

儀器名稱

X射線熒光光譜儀

儀器型號

Panalytical Axios

生產廠家

荷蘭

技術參數

    分析范圍：O(8)-U(92)；含量范圍：PPM-

    SST-mAX無衰減X光管及固態高壓發生器功率：4KW，60KW，160mA

    DOPS直接光學定位測角儀精確率：0.0001^o

    晶體：LiF200；PX-1；PE002，Ge111；LiF220；掃描方式：順序掃描

    探測器：流氣式：3000Kcps；閃爍式：1500 Kcps

應用范圍

    用于粉末，塊狀，粉末壓片，熔片，金屬非金屬樣品，空氣濾膜等樣品元素成分的定性定量分析以及無標樣半定量分析，無損分析。

主要功能

    X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，釋放出來，電子的逐放會導致該電子可曾出現相應當電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子會躍遷到該低能量電子殼層來*相應當電子空位。由于不同電子殼層之間存在能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性—特征波長(定性分析基礎)；依據譜線強度與元素含量的比例關系進行定量分析。

半定量分析

樣品要求

    寄送樣品須干燥處理；固體：尺寸要求(mm) 長×寬：10×10 mm～200×200 mm  高：<100 mm；粉末：樣品均勻、粒度>200目，送樣質量大于1 g。