儀器名稱

X射線衍射儀

儀器型號(hào)

日本理學(xué) SmartLab 3KW

儀器簡(jiǎn)介

高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過(guò)0.01度，*的一維陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅大幅提高設(shè)備的使用效率， 而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。

技術(shù)參數(shù)

    測(cè)量精度：±0.0001°；                       測(cè)角儀半徑≥200 mm；

    很小步長(zhǎng)：0.0001° ；                             角度范圍（2θ）：-110～168°；

    很大輸出：3 KW；                            穩(wěn)定性：±0.01%； 

    管電壓：20～60 kV(1kV/1step)；         管電流：10～60 mA。

儀器功能

        X射線衍射儀可以對(duì)樣品進(jìn)行物相定性和部分樣品的定量分析，可以測(cè)定精確的晶胞參數(shù)、簡(jiǎn)單晶體的晶體結(jié)構(gòu)、樣品的結(jié)晶度、微晶的粒度。利用相應(yīng)附件可以測(cè)定納米粒度、薄膜厚度；可以進(jìn)行斑點(diǎn)等小區(qū)域樣品進(jìn)行分析；

在線測(cè)試系統(tǒng)

物相分析檢測(cè)案例

樣品要求

    粉末：樣品須干燥處理，粒度小于300目，質(zhì)量不少于0.1g；

    塊體: 需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×20mm×2mm。