按鍵式可編程恒溫恒濕試驗箱又名高低溫交變濕熱試驗箱，該設備采用的韓國三元TEMI300控制器，可自動循環，自動轉換溫濕度條件，自動開關機，可編程100組，每組10段，共1000段試驗條件。可實現的試驗條件包括：高溫，低溫，高低溫恒溫，高低溫循環，濕熱，濕熱恒定，濕熱交變，高溫低濕，低溫高濕，高溫高濕等功能。用于測試各類產品及材料在不同溫濕度環境下使用及儲存時的適應性能。
按鍵式可編程恒溫恒濕試驗箱主要用來測試LED半導體、LED光電、LED照明、LED燈柱、LED電源、LED模組、LED模塊、LED顯示屏、LED燈泡、LED日光燈、LED芯片、LED電視、LED顯示器、LED數碼管、LCD、LCD模組、LCD液晶屏、LCD觸摸屏、LCD顯示器、PCB、PCB電路板、PCB線路板、FPC、電子、電工、電器、光電、光伏、光纖、電容器、電阻、電腦、電線、電纜、通訊設備、太陽能組件、電子產品、電子元器件、通訊、數碼產品、塑膠、橡膠、化工、涂料、油墨、油漆、醫藥、建材、汽車、膠粘、印刷、陶瓷、五金、航空、航天、、高分子材料、合成材料行業。
按鍵式可編程恒溫恒濕試驗箱滿足標準：
中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫
中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫
中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法
中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環試驗
中國國家標準,GB/T2423.4-93方法
中國國家環境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗
美國標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度
美國標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫
美國標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫
美國標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗
美國標準,MIL-STD810D方法502.2
美國標準,MIL-STD810方法507.2程序3
美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗
美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗
美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗
日本工業標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態
日本工業標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱
日本工業標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫
國際電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩態濕熱
國際電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷
國際電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱
