蔡司場發射電鏡主動減震臺
K&S ARIS MD300主動減震臺
專為精密儀器設計的主動震動隔離系統，設計輕巧而緊湊，易與安裝的流線型設計，更方便定位的獨立支撐模塊，安裝過程無需復雜的調校。有工程師，物理學家及精密儀器領域內的專家顧問共同研發顯著的降低了環境震動帶來的干擾，使它成為精密儀器的配置。
掃描電子顯微鏡主動減震臺：
TESACAN掃描電子顯微鏡鏡 ZEISS蔡司掃描電子顯微鏡 Thermo Fisher（FEI）掃描電子顯微鏡 HITACHI日立掃描電子顯微鏡 JEOL日本電子掃描電子顯微鏡 PHENOM飛納掃描電子顯微鏡
應用方向：
用于降低或屏蔽地面附件的震動源給儀器的影響，由4-6個獨立主動減震模塊組成，進而屏蔽或減少地面震動對掃描電鏡性能的影響。提供給掃描電子顯微鏡的工作狀態及分辨率。
技術指標：
隔振性能:8dB gain on 1Hz（60-70%）；20dB gain on 2Hz（≥90%）
隔振自由度：6個自由度
響應時間：≤0.01Sec
隔振性能：0.5~100Hz
模塊尺寸：230×270×75mm
承載重量：300-1200Kg
環保在線