當前位置：北京康高特儀器設備有限公司>>核輻射檢測>>全自動固體徑跡蝕刻測量系統>> TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統
| 測量對象 | 固體核徑跡蝕刻探測器 | 測量范圍 | - |
|---|---|---|---|
| 測量精度 | - | 尺寸 | -mm |
| 分辨率 | - | 加工定制 | 否 |
| 靈敏度 | - | 數據接口 | - |
| 重量 | -kg |
TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統簡介：
TASLimage是基于核徑跡分析技術發展的高性能全自動圖像測量及分析系統，用于測量及分析各類塑料徑跡探測器，例如 TASTRAK（TASL 公司生產）、CR39、PN3。
TASLimage系統的顯微鏡模塊采用了高質量 Nikon 光學器件和超快 3D 機動控制系統，保證了系統的高測量效率、高精度及低本底等優異性能。
TASLimage適用于中子測量、氡濃度監測、聚變研究、α 粒子放射自顯影、鈾礦勘探、宇宙射線以及放射領域教學。
TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統特點：
全自動聚焦，全自動掃描點碼和蝕刻徑跡；
全自動測讀批量探測器；
快速測讀，測讀時間為 30~60 秒（與參數設置相關）；
自動修正探測器響應衰退，保證探測器可用于 12 個月的長期監測；
高度精密的圖像分析技術，可區分徑跡與本底特征；
全自動本底評估（對每個探測器）；
掃描數據自動轉換為中子劑量 / 氡濃度；
數據可導出 excel 文件。
TASLimage軟件界面
TASTRAK核徑跡探測器
TASLimage徑跡蝕刻測量系統技術參數：
| 探測器類型 | PADC（聚丙烯二甘醇碳酸酯） |
| 兼容品牌 | TASTRAK,CR39,PN3 等，不限尺寸 |
| TASTRAK 規格 | 常規：0.5mm,0.75mm,1.0mm,1.5mm, 可定制：0.1~0.5mm，＞ 1.5mm |
| 本底徑跡 | ＜ 20tracks/cm2 |
| 蝕刻數量 | 150 個或 294 個，不銹鋼蝕刻架 |
| 蝕刻條件 (TASTRAK) | 氡：98℃ , 約 1 小時；或 75℃ , 約 6 小時； 中子： 85℃ , 約 3 小時 |
| 識別徑跡密度 | ≥ 140tracks/mm2 |
| 探測限 | 氡：5Bq/m3 ~15MBq/m3 中子：下限＜ 0.25mSv |
| 線性 | 中子：優于 5%, 不窄于 0.1mSv - 600 mSv； 氡： 3%-6%（200-5000 Bq/m3 ） |
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，環保在線對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
環保在線