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X射線熒光光譜儀XD-8010

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X射線熒光光譜儀XD-8010 采用三重射線防護(hù)系統(tǒng)（軟件聯(lián)鎖、硬件聯(lián)鎖、整機(jī)迷宮式設(shè)計(jì)），杜絕各種工作情況下的輻射泄露。

詳細(xì)介紹

X射線熒光光譜儀XD-8010
• 采用三重射線防護(hù)系統(tǒng)（軟件聯(lián)鎖、硬件聯(lián)鎖、整機(jī)迷宮式設(shè)計(jì)），杜絕各種工作情況下的輻射泄露。
• 采用開(kāi)創(chuàng)設(shè)計(jì)的組合式短光路光路盤(pán)，顯著提高檢測(cè)靈敏度，降低檢測(cè)限。
• 采用大型樣品室，無(wú)需破壞和前期處理即可測(cè)量比較大的樣品。
• 軟件工作站一鍵式操作，簡(jiǎn)單易用，使用方便，人機(jī)交互友好，無(wú)需**知識(shí)。
• 從S到U的快速元素分析，測(cè)量時(shí)間可調(diào)。
• 多達(dá)15組復(fù)合濾光片，X射線照射徑從Φ1mm到Φ7mm可選。
• 強(qiáng)大的自主定制分析報(bào)告格式功能，分析報(bào)告可保存為 PDF 和 Excel 兩種格式，分析結(jié)果自動(dòng)保存，可方便對(duì)歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行查詢(xún)及統(tǒng)計(jì)，只需一次點(diǎn)擊即可輸出數(shù)據(jù)。
• 軟件可視頻觀察樣品的位置，并且對(duì)樣品進(jìn)行拍照，樣品圖片顯示在測(cè)試報(bào)告中。
• 可進(jìn)行譜圖比對(duì)，對(duì)不同元素含量的譜圖進(jìn)行比對(duì)，進(jìn)行材料識(shí)別。
• 采用經(jīng)典的定性定量分析方法，**保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
• 開(kāi)放式校準(zhǔn)曲線平臺(tái)，可為客戶(hù)量身定做有害物質(zhì)檢測(cè)方案。