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上海高致精密儀器有限公司
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A1型磁粉探傷試片*先由日本無損檢測學會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調試工具。
A1型磁粉探傷試片 磁粉探傷靈敏度試塊 磁粉探傷比較塊實物拍攝：
A1型磁粉探傷試片 磁粉探傷靈敏度試塊 磁粉探傷比較塊性能特點：
A1型靈敏度試片先由日本無損檢測學會提出，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復雜，不同材質的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調試工具。
特點：
試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復雜的零件時，表現其特點。
A1型磁粉探傷試片 磁粉探傷靈敏度試塊 磁粉探傷比較塊技術參數：
A1型標準試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標準特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標準和美國ASME SE709標準相對應。本試片為A1 （15/50μ）標準試片。相當于A1型試片中2# (30/100μ)標準靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。
本套試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
您也可以自由組合這六個規(guī)格湊成一套，您拍之前和我們客服溝通或者訂單備注!
A1型磁粉探傷試片 磁粉探傷靈敏度試塊 磁粉探傷比較塊操作方法：
1、標準試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時應選適當靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2、進行外加懸場法，對工件進行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流）。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
A1型磁粉探傷試片 磁粉探傷靈敏度試塊 磁粉探傷比較塊注意事項：
1、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，確保試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
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