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Hi-Q光學測試測量系統(tǒng)

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更新時間：2024-06-03 09:45:02瀏覽次數(shù)：149次

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產(chǎn)品簡介

美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統(tǒng)提供了自動化地測量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測量

詳細介紹

美國OEwaves公司的HI-Q光學測試測量系統(tǒng)提供了自動化地測量連續(xù)激光器或激光光源的超低相位噪聲測量。這個光學測試測量系統(tǒng)能夠快速地測量激光相位噪聲，評估其線寬的半高寬度低至< 3 Hz,而無需復雜的測試架構(gòu)和參考激光即可作這樣的窄線寬測量。

該系統(tǒng)在寬帶測量方面是無二的，它不要求另外的低噪聲參考激光光源。該系統(tǒng)操作簡單、方便、快速、精度高，且無需附加額外的測試設(shè)備。這臺無二的超低相位/頻率噪聲分析儀可擴展到不同的輸入波段，并用于低相對強度噪聲測量。

特點：

▪ 超低相位/頻率噪聲測量

▪ 快速實時測量

▪ 即刻和擴展的FWHM線寬分析

▪ 不需要低噪聲參考光源

▪ 用戶友好界面

▪ 簡單的基于PC的操作

▪ 3U x 19英寸機架系統(tǒng)

▪ 可定制的配置、升級和選項