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深圳維爾克斯光電有限公司
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InfraTec可調波長紅外熱釋電探測器采用靜電驅動波長調節，位置變化和溫度變化的主動補償，電流模式，熱補償。InfraTec波長可調紅外熱釋電探測器主要應用領域在化學物質組分檢測，定性未知物質，重疊吸收帶中分辨物質組分等。
InfraTec波長可調熱釋電探測器，熱補償
InfraTec公司在用于高精度的氣體分析，高性能的火情、火焰探測器領域，專注于研發生產InfraTec可調波長紅外探測器，已經開發出多種類型，高質量的InfraTec熱釋電紅外探測器。采用模塊化結構設計的InfraTec熱釋電探測器具有多種品類，能夠提供滿足各種應用場景的需求。本篇主要介紹可調波長紅外熱釋電探測器和可調波長熱釋電探測器。
InfraTec熱釋電紅外傳感器
這您可以找到InfraTec公司的可調波長探測器。由Infratec研發實驗室開發出一種新穎的可調波長紅外熱釋電傳感器。可調波長紅外熱釋電傳感器可以通過一個簡單的電壓控制來改變波長。法布里-佩羅（Fabry-Perot）濾鏡能夠實現一個寬波段內的連續光譜掃描，以此來取代安裝不同的濾鏡檢測感興趣的波段。
可調波長紅外熱釋電傳感器主要特點
-四組光譜范圍可選
-光譜分辨率λ/Δλ可達60
-靜電驅動波長調節
-位置變化和溫度變化的主動補償
-電流模式
-熱補償
可調波長紅外熱釋電探測器應用領域范圍廣泛
基于 InfraTec可調波長紅外熱釋電探測器原理的紅外光譜法，是鑒別物質成分和濃度的非常成熟的方法，de具有特異性和長期穩定性。此類應用非常廣泛，在此只列舉一些非常重要的例子。它不僅被廣泛地用于氣體分析，當然在液體和固體物質分析中也常被選擇。
-在測量物質方面靈活多樣
-應用化學計量法分析多組分物質
-可以從重疊吸收帶中測出已知物質的組分
-可以定性未知物質
-高性價比，耐用，并且小型化
InfraTec可調波長紅外傳感器的設置
法布里-帕羅濾光片和鉭酸鋰材料的 InfraTec可調波長紅外熱釋電探測器一起被封裝在TO8的管殼中。熱釋電探測器采用的電流模式即帶集成運放，并且帶熱補償。靈敏元大小是2×2 mm2，正好和濾光片尺寸匹配。帶寬濾光片被封裝在管帽上面。校正數據被存儲于EEPROM。集成ASIC能夠反饋移動鏡面的位置信息。在重力變化的環境中，這樣一個閉環控制大大提高了中心波長（CWL）的穩定性，例如，在旋轉探測器的使用位置時。
InfraTec可調波長紅外傳感器的工作原理
紅外熱釋電傳感器可調波長技術是基于微機械加工的法布里-帕涉儀技術。紅外熱釋電傳感器由兩個平行平板組成，如圖。簡單來說， 紅外熱釋電傳感器形成了一個半波諧振器，根據干涉原理生成許多連續級數的透過峰（如圖3）。如果改變平板的間距，峰的位置，也就是 中心波長（CWL）就會改變。另一個帶通濾光片與法布里-帕涉鏡平行擺放來消除其他級數的干擾。
| 型號 | 管殼 | 通道 | 通光孔（mm） | 頻率 | 信號處理方式 | 熱補償 | 低麥克風效應 | 探測率 |
| LFP-3144C | TO8 | 可調 | ? 1.9 | 電流模式 | 運算放大器 | 有 | 有 | 0.036 |
| LFP-3850C | TO8 | 可調 | ? 1.9 | 電流模式 | 運算放大器 | 有 | 有 | 0.03 |
| LFP-5580C | TO8 | 可調 | ? 2.0 | 電流模式 | 運算放大器 | 有 | 有 | 0.048 |
| LFP-80105C | TO8 | 可調 | ? 2.0 | 電流模式 | 運算放大器 | 有 | 有 | 0.04 |
| 型號 | 中心波長CWL調節范圍 | 波長分辨率HPBW | 濾光片時間常數 | 應用 |
| LFP-3144C-337 | 3.1~4.4μm | 55~70nm | 3~15ms | 環境，氣候，建筑和安防技術 |
| LFP-3850C-337 | 3.8~5.0μm | 60~75nm | 2~12ms | |
| LFP-5580C-337 | 5.5~8.0μm | 100~130nm | 1~10ms | 過程控制技術，液體分析 |
| LFP-80105C-337 | 8.0~10.5μm | 130~220nm | 1~8ms | 醫療技術，呼吸狀態分析 |
以LFP-3144C為例，介紹一下規格以及參數
InfraTec可調波長紅外傳感器LFP-3144C工程圖
InfraTec可調波長紅外傳感器LFP-3144C參數表
| 參數 | 數值類型 | 數值 |
| F-P濾波器 | nom | FPF 3.1 … 4.4 µm, first order |
| 濾波片通光孔徑 |
| ?1.9 mm |
| 反射鏡傳動裝置 | nom | Electrostatic, 1 nF load, <0.05 µA leakage current |
| 調諧范圍 | nom | 3.1 ... 4.4 µm |
| 頻譜帶寬 | nom | 55 … 70 nm |
| 濾波器機械時間常數 | typ | 2 … 20 ms |
| 開環狀態，倒置重力影響中心波長漂移 | typ | ±15 … 35 nm |
| EEPROM中存儲的校準精度（+15…65°C，不受重力影響，開環） | typ | ±10 nm |
| EEPROM中存儲的校準精度（+15…65°C，閉環） | typ | ±3 nm |
| 探測器板的中心波長偏差｛25°C｝ | typ | ±2 nm |
| 控制精度 {≤10 g, ≤10Hz} | typ | ±0.5 nm/g |
| 沉降時間，閉環 | typ | 5 ... 10 ms |
| 需要的供電電壓 | nom | 3.3V, ±5V, 12V, 30…90V |
| 板子的數字接口 |
| UART, 1MBd, 3.3 V |
| 探測器輸出信號，調節（板） |
| 0 ... 3.3 V |
| 順序過濾器 | nom | WBP |
| 紫外帶外阻塞 | min | 25 µm |
| 熱釋電探測器 | nom | LME-337 based type |
| 元件尺寸 | nom | 2.0 × 2.0 mm2 lithium-tantalate with black layer |
| 熱時間常數 | typ | 150 ms |
| 反饋電阻 | nom | 100 GΩ ±20 % |
| 反饋電容 | nom | 50 fF ±10 fF |
| 極性 | nom | Negative signal by positive IR flux change |
| 電壓響應 | typ | 1,000 V/W @ CWL = 4.0 ± 0.05 µm |
| 噪聲密度 | max | 75 µV/√Hz |
| 探測能力 | typ | 3.0E+06 cm√Hz/W @ CWL = 4.0 ± 0.05 µm |
| 工作/存儲溫度 | nom | +15 ... 65 °C / -25 … +85 °C |
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