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北京潤恒奧儀器儀表設備有限公司
雙單元電化學工作站 雙恒電位儀 電化學分析儀 型號:RHA-CS2350CS2350雙單元電化學工作站是基于常規單通道系列CS350型發展而來,內置兩套獨立的恒電位/恒電流儀,每套恒電位儀各有一套輔助、工作和參比電極輸出,并由Corrtest軟件來協調輸出電位/電流
雙單元電化學工作站 雙恒電位儀 電化學分析儀 型號:RHA-CS2350
CS2350雙單元電化學工作站是基于常規單通道系列CS350型發展而來,內置兩套獨立的恒電位/恒電流儀,每套恒電位儀各有一套輔助、工作和參比電極輸出,并由Corrtest軟件來協調輸出電位/電流。
CS2350工作時分主單元和從單元兩路,從單元采用浮地模式實現對第二工作電極WEII的電位/電流控制。第二工作電極電位可以保持在獨立的恒定電位或電流值,也可實現獨立于工作電極的線性掃描或循環伏案掃描等測試。
因此,CS2350除了具備單通道工作站的所有特點,還可用于電化學反應中間產物的檢測。
典型應用
①配合旋轉環盤電極用于研究電化學氧化還原體系,在測量圓盤電極極化曲線的同時,控制圓環電極于一個固定的極化電勢,用以檢測圓盤電極上產生的反應中間物,該方法也成為檢測反應中間物和研究電極反應機理的典型流體動力學方法。
②金屬中氫擴散測試,兩個恒電位裝置配合Devnathan-Stachurski雙電解池,通過左側電解池的陰極充氫和右側電解的氫原子陽極氧化電流測量,進而計算氫原子在金屬中擴散系數和氫通量。
硬件參數指標
雙恒電位儀:單恒電位電位控制范圍:±10V 雙恒電位儀電位控制范圍:±10V | 恒電流控制范圍:± |
電位控制精度:%×滿量程讀數±1mV | 電流控制精度:%×滿量程讀數 |
電位靈敏度:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度 lt;10pA |
電位上升時間:<1μS(<10mA),<10μS(<2A) | 電流量程:2A~200nA, 共8檔 |
參比電極輸入阻抗:1012Ω 20pF | 輸出電流: |
槽壓輸出:±21V | 電流掃描增量:1mA @1A/mS |
CV和LSV掃描速度:~10000V/s | 電位掃描電位增量: @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度:~65000s | DPV和NPV脈沖寬度:~1000s |
SWV頻率:~100KHz | CV的最小電位增量: |
AD數據采集:16bit@1MHz,20bit @1kHz | 電流與電位量程:自動設置 |
DA分辨率:16bit,建立時間:1μS | 低通濾波器 :8段可編程 |
通訊接口: | 儀器重量: |
外形尺寸(cm):(W) (D)X16 (H) |
電化學阻抗測量參數
信號發生器 | |
頻率響應:10μHz~1MHz | 交流信號幅值:1mV~2500mV |
頻率精確度:% | 信號分辨率:Mv RMS |
直流偏壓:-10V~+10V | DDS輸出阻抗:50Ω |
波形:正弦波,三角波,方波 | 正弦波失真率 lt;1% |
掃描方式:對數/線性,增加/下降 | |
信號分析器 | |
積分時間:106個循環或者105S | 測量時間延遲:0~105秒 |
最小積分時間:10mS 或者一個循環的最長時間 | |
直流偏置補償 | |
電位補償范圍:-10V~+10V | 電流補償范圍:-1A~+1A |
帶寬調整:自動或手動設置, 共8級可調 |
RHA-CS2350雙單元電化學工作站功能方法
功 能 方 法 | 主單元 | 從單元 | 功 能 方 法 | 主單元 | 從單元 | ||
穩 態 極 化 | 開路電位測量(OCP) | ? | ? | 溶 出 伏 安 | 恒電位溶出伏安 | ? | |
恒電位極化(i-t曲線) | ? | ? | 線性溶出伏安 | ? | |||
恒電流極化 | ? | ? | 階梯溶出伏安 | ? | |||
動電位掃描(TAFEL曲線) | ? | ? | 方波溶出伏安 | ? | ? | ||
動電流掃描(DGP) | ? | 交 流 阻 抗 | 電化學阻抗(EIS)~頻率掃描 | ? | ? | ||
暫 態 極 化 | 任意恒電位階梯波 | ? | 電化學阻抗(EIS)~時間掃描 | ? | |||
任意恒電流階梯波 | ? | 電化學阻抗(EIS)~電位掃描(Mott-Schottky曲線) | ? | ||||
恒電位階躍(VSTEP) | ? | ||||||
恒電流階躍(ISTEP) | ? | 腐 蝕 測 量 | 循環極化曲線(CPP) | ? | ? | ||
快速電位脈沖 | ? | 線性極化曲線(LPR) | ? | ? | |||
快速電流脈沖 | ? | 動電位再活化法(EPR) | ? | ||||
計 時 分 析 | 計時電位法(CP) | ? | 電化學噪聲 (EN) | ? | |||
計時電流法(CA) | ? | 電偶腐蝕測量 (ZRA) | ? | ||||
氫擴散測試(HDT)* | |||||||
計時電量法(CC) | ? | 電 池測 試 | 電池充放電測試 | ? | ? | ||
伏 安 分 析 | 線性掃描伏安法(LSV) | ? | ? | ||||
線性循環伏安法(CV) | ? | ? | 恒電流充放電 | ? | |||
階梯循環伏安法(SCV) | ? | ||||||
差分脈沖伏安法(DPV) | ? | 擴 展 測 量 | 盤環電極測試 * | ? | |||
常規脈沖伏安法(NPV) | ? | 數字記錄儀 | ? | ? | |||
方波伏安法(SWV) | ? | 波形發生器 | ? | ? | |||
交流伏安法(ACV) | ? | 圓盤電機控制 | ? | ? | |||
常規差分脈沖伏安法(DNPV) | ? | ||||||
二次諧波交流伏安 (SHACV) | ? |
儀器配置:
1)儀器主機1臺
2)CorrTest測試與分析軟件1套
3)專用電解池(含鹽橋和排氣管)2套
4)鉑金電極、參比電極、工作電極各2支
5)模擬電解池1個
6)電源線/USB數據線各1條
7)電極電纜線2條
8)屏蔽箱(選配*)
附件 :CS2350H/CS2150H雙恒電位儀技術參數
1、硬件參數指標
2,3,4電極體系
雙恒電位儀:
單恒電位儀電位控制范圍:±10V
雙恒電位儀電位控制范圍:±10V
恒電流控制范圍:±
電位控制精度:%×滿量程讀數±1mV
電流控制精度:%×滿量程讀數
電位分辨率:10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz)
電流靈敏度 lt;1pA
電位上升時間 lt;1mS(<10mA) lt;10mS(<2A)
參比電極輸入阻抗:1012W 20pF
電流量程:2A~2nA, 共10檔
槽壓:±21V
輸出電流:
CV 和LSV掃描速度:~10000V/s
CA和CC脈沖寬度:~65000s
電流掃描增量:1mA @1A/mS
電位掃描時電位增量: @1V/mS
SWV頻率:~100KHz
DPV和NPV脈沖寬度:~1000s
AD數據采集:16bit@1MHz, 20bit @1KHz
DA分辨率:16bit, 建立時間:1mS
CV的最小電位增量:
低通濾波器:8段可編程
電流與電位量程:自動設置
接口通訊模式:
2、電化學阻抗功能指標(CS2350H)
信號發生器:
頻率響應:10mHz~1MHz
頻率精確度:%
交流信號幅值:1mV~2500mV
信號分辨率:mV RMS
直流偏壓:-10~+10V
DDS輸出阻抗:50W
波形:正弦波,三角波,方波
正弦波失真 lt;1%
掃描方式:對數/線性,增加/下降
信號分析器:
最小積分時間:10mS 或者一個循環的最長時間
積分時間:106個循環或者105S
測量時間延遲:0~105秒
直流偏置補償:
電位自動補償范圍:-10V~+10V
電流補償范圍:-1A~+1A
帶寬調整(Bandwidth) :自動或手動設置,共8級可調
3、CorrTest測量與控制軟件主要功能
CS2350H和CS2150H電化學功能方法設置有區別,詳細比較見以下圖表:
型號
CS2350H
CS2150H
單元一
穩態極化:開路電位測量(OCP)、恒電位極化(I-t曲線)、恒電流極化、動電位掃描(TAFEL曲線)、動電流掃描(DGP)
暫態極化:任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍、恒電流階躍
計時分析:計時電位法(CP)、計時電流法(CA)、計時電量法(CC)
伏安分析:線性掃描伏安法(LSV) 線性循環伏安法(CV)、階梯循環伏安法(SCV) 方波伏安法(SWV) 差分脈沖伏安法(DPV) 常規脈沖伏安法(NPV) 常規差分脈沖伏安法(DNPV) 差分脈沖電流檢測法(DPA)、雙差分脈沖電流檢測法(DDPA)、三脈沖電流檢測法(TPA)、積分脈沖電流檢測法(IPAD)、交流伏安法(ACV) 二次諧波交流伏安(SHACV)、傅里葉變換交流伏安(FTACV)【標#號的方法包括相應的溶出伏安分析方法】
交流阻抗:電化學阻抗(EIS)~頻率掃描、電化學阻抗(EIS)~時間掃描、電化學阻抗(EIS)~電位掃描(Mott-Schottky曲線)
腐蝕測量:動電位再活化法(EPR)、電化學噪聲(EN)、電偶腐蝕測量(ZRA)、氫擴散測試
電池測試:電池充放電測試、恒電流充放電
穩態極化:開路電位測量(OCP)、恒電位極化(I-t曲線)、恒電流極化、動電位掃描(TAFEL曲線)、動電流掃描(DGP)
暫態極化:任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍、恒電流階躍
伏安分析:線性掃描伏安法(LSV) 線性循環伏安法(CV)【標#號的方法包括相應的溶出伏安分析方法】
腐蝕測量:動電位再活化法(EPR)、電化學噪聲(EN)、電偶腐蝕測量(ZRA)
電池測試:電池充放電測試、恒電流充放電
單元二
穩態極化:開路電位測量(OCP)、恒電位極化(I-t曲線)、恒電流極化、動電位掃描(TAFEL曲線)、動電流掃描(DGP)
暫態極化:任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍、恒電流階躍
伏安分析:線性掃描伏安法(LSV) 線性循環伏安法(CV)【標#號的方法包括相應的溶出伏安分析方法】
腐蝕測量:動電位再活化法(EPR)、電化學噪聲(EN)、電偶腐蝕測量(ZRA)
電池測試:電池充放電測試、恒電流充放電
穩態極化:開路電位測量(OCP)、恒電位極化(I-t曲線)、恒電流極化、動電位掃描(TAFEL曲線)、動電流掃描(DGP)
暫態極化:任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍、恒電流階躍
伏安分析:線性掃描伏安法(LSV) 線性循環伏安法(CV)【標#號的方法包括相應的溶出伏安分析方法】
腐蝕測量:動電位再活化法(EPR)、電化學噪聲(EN)、電偶腐蝕測量(ZRA)
電池測試:電池充放電測試、恒電流充放電
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