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廣州貝拓科學技術有限公司
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WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡采用設備的中空懸臂式近場探針實現超越衍射極限的光學分辨率。alpha 300S系統也具備*的兼容性和擴展性，可與共聚焦光學/拉面顯微鏡及原子力顯微鏡集成在同一臺儀器上，僅需旋轉物鏡轉輪即可實現不同模式切換。
產品介紹
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WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡
WITec alpha 300S的懸臂式掃描近場光學顯微鏡
alpha 300S一款操作簡易的掃描近場光學顯微鏡（SNOM），采用設備的中空懸臂式近場探針實現超越衍射極限的光學分辨率。alpha 300S系統也具備*的兼容性和擴展性，可與共聚焦光學/拉面顯微鏡及原子力顯微鏡集成在同一臺儀器上，僅需旋轉物鏡轉輪即可實現不同模式切換。
WITec alpha 300S 掃描近場光學顯微鏡
WITec alpha 300S是一種純近場光學顯微鏡，在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。
該近場光學顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發光源。 alpha300S 系統采用軟件可控的快速自動進針及調節等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。
由于近場光學信號極其微弱，alpha300 S 近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數的光電倍增管或雪崩二極管，并同時提供檢測器快速超載保護。更重要的是，UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統兼容，實現近場光譜與成像測量。
關鍵特性：
突破衍射極限的空間光學分辨率（橫向約 60 nm)
的 SNOM 探針技術
在空氣與液體中均可使用
包含多種原子力與光學顯微鏡模式
非破壞性、無需標記的超高分辨成像技術，基本不需要樣品制備
可升級到關聯的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像
集成三種技術到一臺儀器上：共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM
技術參數：
1）工作模式：近場顯微鏡，共聚焦顯微鏡，原子力顯微鏡三種工作模式；
2）近場光學顯微鏡分辨率：為50nm
3) 共聚焦拉曼顯微鏡分辨率：200nm
4) 掃描臺掃描范圍：100 x 100 x 20 μm
5）探測器：光電倍增管（PMT）或雪崩二極管（APD）
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