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上海納嘉儀器有限公司
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探針式輪廓儀/臺階儀/Alpha-StepD-500StylusProfilerAlpha-StepD-500探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺階高度
Alpha-Step D-500探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺階高度。 D-500還可以在研發和生產環境中支持粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 D-500包括一個手動140毫米平臺和*的光學系統以及加強視頻控制。
Alpha-Step D-500探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。
探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關。 可調節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進行精確測量。
通過測量粗糙度和應力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的任何變化。
臺階高度：幾納米至1200μm
低觸力：0.03至15mg
視頻：500萬像素高分辨率彩色攝像頭
梯形失真校正：消除側視光學系統引起的失真
圓弧校正：消除由于探針的弧形運動引起的誤差
緊湊尺寸：占地面積小的臺式探針輪廓儀/臺階儀
臺階高度：2D臺階高度
紋理：2D粗糙度和波紋度
形式：2D翹曲和形狀
應力：2D薄膜應力
大學，研究實驗室和研究所
半導體和復合半導體
SIMS：二次離子質譜
LED：發光二極管
太陽能
MEMS：微電子機械系統
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