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氙燈耐氣候試驗(yàn)箱

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更新時(shí)間：2025-04-15 10:25:23瀏覽次數(shù)：87次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

氙燈耐氣候試驗(yàn)箱的使用氙燈耐氣候試驗(yàn)箱，能再現(xiàn)不同環(huán)境下產(chǎn)生的破壞性光波，為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)

詳細(xì)介紹

氙燈耐氣候試驗(yàn)箱.jpg

氙燈耐氣候試驗(yàn)箱.png

氙燈耐氣候試驗(yàn)箱的使用

氙燈耐氣候試驗(yàn)箱，能再現(xiàn)不同環(huán)境下產(chǎn)生的破壞性光波，為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)。可用于選擇新材料、改進(jìn)現(xiàn)有材料，在材料成分改變之后進(jìn)行的耐久性改變?cè)囼?yàn)，這些試驗(yàn)?zāi)茌^好地模擬不同環(huán)境條件下陽(yáng)光對(duì)材料的影響。適用于各種產(chǎn)品的零部件和材料的檢驗(yàn)，也適用于家用電器、零件、電子設(shè)備以及汽車、航空、移動(dòng)通訊、摩托車、塑料制品、機(jī)械、等行業(yè)對(duì)日光和人工光源老化的適應(yīng)性試驗(yàn)，可靠性和耐久性試驗(yàn)適用于各研究所和企事業(yè)單位試驗(yàn)室。

氙燈耐氣候試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)特征

氙燈耐氣候試驗(yàn)箱采用數(shù)控機(jī)床加工成型，外形美觀，無反作用柄，操作簡(jiǎn)便。

內(nèi)膽采用SUS304不銹鋼拉絲面板，表面光潔，紋理清晰。

氙燈耐氣候試驗(yàn)箱附燈觀察箱保持明亮，并利用加熱體嵌入鋼化玻璃，隨時(shí)觀察箱內(nèi)清晰可辨。

氙燈耐氣候試驗(yàn)箱的箱體左側(cè)有直徑為50mm或100mm的檢測(cè)孔，可以用來檢測(cè)電源或信號(hào)線外接。

控制器

氙燈耐氣候試驗(yàn)箱控制采用全進(jìn)口觸摸屏儀表，操作設(shè)定簡(jiǎn)單。
資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。
具有P.I.D自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。

冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)

工作尺寸及型號(hào)

經(jīng)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督檢測(cè)中心檢測(cè)，符合“環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件"系列標(biāo)準(zhǔn)中的：

GB9344-88《塑料氙燈光源暴露試驗(yàn)方法》

GB5137.3《玻璃氙燈光源暴露試驗(yàn)方法》

GB/T16422.2-99（2007）的技術(shù)參數(shù)設(shè)計(jì)制造

符合（GB/T1865-97（2007）、GB/T9344-88、GB/T16422.2-99、GB/T2423.24-1995、ASTMG155、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2412）等標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.3—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB/T2423.4—2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法

GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB2423.4-91電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

GJB150.3 (MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法

GJB150.4（MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法

GJB150.9 (MIL-STD-810D)濕熱試驗(yàn)方法

GB/T10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

關(guān)鍵詞：試驗(yàn)箱電子設(shè)備氙燈光源低溫試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱