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沃特世SYNAPT G2-Si HDMS三維分辨率CID與ETD碎裂功能

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更新時間：2025-02-02 09:24:31瀏覽次數：144次

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產品簡介

重新定義分辨率——三維分辨率信息

詳細介紹

重新定義分辨率——三維分辨率

信息。信息學。影響力。通過優秀的質譜性能、行業優秀的信息學和很好的平臺通用性，SYNAPT G2-Si可以對復雜混合物和分子進行詳盡表征。

利用高效T-Wave IMS實現高效的分離
優良的UPLC/MS/MS性能
數據獨立型和數據依賴型T-Wave IMS解決方案
CID與ETD碎裂功能
多種實驗類型選擇

利用高效T-Wave IMS實現出色的分離

保留。遷移。質量。某些情況下，色譜和質量數分辨率還不能滿足要求。借助高效T-Wave離子淌度技術，您可以在分子大小和形狀的基礎上獲得另一個分離維度。利用分子碰撞截面特性這一項的功能，可以提供高水平的選擇性、特異性、靈敏度和結構分析。其優點還包括同分異構體分離、消除干擾、生成更干凈的譜圖，以及更準確地識別化合物ID。

優異的UPLC/MS/MS性能

將StepWave和UPLC分離與定量飛行時間（QuanTof）技術相結合，實現較高的峰容量和數據質量。StepWave是目前靈敏和可靠的離子源，具有“主動"選擇離子和“被動"防止中性污染物的功能。

與其他所有質譜分析器不同，QuanTof能夠提供高質量數高分辨率、精確質量數和準確的同位素比例、寬的動態范圍（譜圖內和定量）和m/z范圍，并且都可以在較快的采集速率實現，即便是對于高基質負荷的樣品也是如此。

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數據獨立型和數據依賴型T-Wave IMS解決方案

適用范圍和效率優良，適用于復雜混合物的分析。通用型UPLC/HDMSE采集技術可以記錄每個可檢測的分子離子的碎片離子數據，與其它“數據獨立型分析"（DIA）技術相比，具有良好的占空比；同時我們的HDMS信息學技術可以為各種各樣的應用提供精簡的數據分析流程。要想獲得更高效、更有效的靶向MS/MS，請選用啟用T-Wave IMS的工作流程。提高MS/MS靈敏度，利用HD-DDA（數據引導分析）在研發實驗中實現更高的覆蓋；并結合HD-MRM，使用靶分子的任何碎片來獲得更低的定量限。

CID與ETD碎裂功能

TriWave的雙碰撞室結構可提供碰撞誘導解離（CID）和/或電子轉移解離（ETD）碎裂，并且同時得到高分辨率和精確質量數，從而獲得更好的MS/MS檢測結果。高解析度四極桿包括4KDa、8KDa或32KDa質量數范圍，適用于從小分子到大分子的MS/MS測定。

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多種實驗類型選擇

沃特世的離子源結構可與各種技術相結合：對于分離，可結合UPLC、nanoUPLC、HDX Automation、APGC和UPC2；對于電離，可結合ESI、APCI、ASAP、 DESI、DART和LDTD。它們可快速互換，在幾分鐘內即可使用。對于直接進樣分析方法，T-Wave IMS可提供優秀的電離后選擇性與特異性。在與高性能可以與大氣壓離子源快速切換MALDI選件結合時，這一點具有非常明顯的優勢。