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INSEM HT高溫原位納米壓痕儀 SEM FIB力學(xué)測試系統(tǒng)

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更新時間：2023-06-30 11:48:21瀏覽次數(shù)：278次

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產(chǎn)品簡介

InSEM系列系列產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下，如與SEM或FIB結(jié)合進行各種原位測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學(xué)性能，如直接與各類光學(xué)顯微鏡、原子力顯微鏡以及各種3D輪廓儀聯(lián)用

詳細(xì)介紹

InSEM 系列系列產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下，如與 SEM 或 FIB 結(jié)合進行各種原位測試；也可以直接在大氣環(huán)境下測試樣品的硬度、楊氏模量或者其它物理力學(xué)性能，如直接與各類光學(xué)顯微鏡、原子力顯微鏡以及各種 3D 輪廓儀聯(lián)用。XYZ 三向納米馬達可以輕松各種高精度的定位的要求. 的“Flip"設(shè)計，又能確保方便的原位力學(xué)和整個實驗過程中的視頻捕捉，力學(xué)測試和SEM/FIB 結(jié)合，既能實現(xiàn)常溫的原位力學(xué)實驗，又能進行超高溫的原位力學(xué)測試，同時業(yè)內(nèi)實現(xiàn)原位狀態(tài)下的磨損測試和泊松比的測量

關(guān)鍵詞：光學(xué)顯微鏡顯微鏡輪廓儀