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東譜科技（廣州）有限責任公司
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2015年Anasys發布產品nanoIR2-s，在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統的基礎上增加了散射近場光學成像和光譜功能（s-SNOM）
2015年Anasys發布產品nanoIR2-s，在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統的基礎上增加了散射近場光學成像和光譜功能（s-SNOM）。實現了同一平臺兼具AFM-IR和s-SNOM兩種技術。儀器的空間分辨率達到10nm，廣泛用于各種聚合物、有機無機復合材料、生物樣本、半導體、等離子體、納米天線等。
納米紅外&散射近場光學成像和光譜系統(nanoIR2-s)
AFM-IR &s-SNOM
l AFM-IR 消除分析化學研究人員的擔憂--與FTIR光譜吻合，沒有吸收峰的任何偏移
l s-SNOM使用金屬鍍層AFM探針代替傳統光纖探針來增強和散射樣品納米區域內的光輻射，空間分辨率由AFM針尖的曲率半徑決定
l 技術實現智能的光路優化調整，無需擔心光路偏差拖延你的實驗進度
l 最準確的定性微區化學表征，得到美國國家標準局NIST, 橡樹嶺國家實驗室等美國機構的認可
l 簡單易用的操作，被三十多位企業用戶和近百位學術界所選擇
l 基于DI傳承的多功能AFM實現納米熱學，力學，電學和磁學測量：
l 納米熱分析模塊（nanoTA, SThM）
l 洛侖茲接觸共振模塊（LCR）
l 導電原子力顯微鏡鏡（CAFM）
l 開爾文電勢顯微鏡（KPFM）
l 磁力顯微鏡（MFM）
l 靜電力顯微鏡（EFM）
10納米空間分辨率化學成像和光譜
石墨烯等離子體 高分辨率成像
石墨烯表面等離子體的近場相位和振幅成像；優于10nm的光學成像
PTFE的nano FTIR光譜顯示相干分子振動時域圖（上圖）,和相應的近場光譜（下左圖）。pNTP分子層的近場光譜（圖下右）。
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