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寧波新材料測試評價中心有限公司
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儀器廠商：美國J.A.Woollam公司型號：M-2000DI到貨日期：2008.4.19技術指標：●波長范圍：190~1700nm●光譜分辨率：1.6nm（波長小于1000nm）
儀器廠商：美國J.A.Woollam公司
型 號：M-2000DI
到貨日期：2008.4.19
技術指標：
● 波長范圍：190~1700 nm
● 光譜分辨率：1.6 nm（波長小于1000 nm）；3.7 nm（波長大于1000 nm）
● 自動入射角范圍：45~900
● 自動樣品臺：150 mm*150 mm
● 旋轉補償器，Ψ可測范圍0~900，Δ可測范圍0~3600
主要用途：
用于單層或多層透明或半透明薄膜的厚度和光學常數的測定，廣泛應用于物理、化學、材料、生物、高分子、光學鍍膜、太陽能電池、平板顯示等領域的研究。
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