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簡要描述: Keithley 4200-SCS型半導體特性分析系統;4200-SCS系統是用于器件、材料和半導體工藝電氣特性分析的完整解決方案。
Keithley 4200-SCS型半導體特性分析系統 4200-SCS系統是用于器件、材料和半導體工藝電氣特性分析的完整解決方案。這種的參數分析儀具有的測量靈敏 ● 精密直流電流-電壓(I-V)測量是實現器件電氣特性分析的基礎。 相關關鍵詞:示波器,力科示波器,泰克示波器,安捷倫示波器,是德示波器,數字示波器,示波器,網絡分析儀,信號分析儀,信號發生器,矢量網絡分析儀,頻譜分析儀,晶體管圖示儀,直流電源,可編程直流電源,半導體測試系統,協議分析儀,藍牙協議分析儀,以太網測試系統,邏輯分析儀,阻抗分析儀,電磁場強測試儀,電磁波場強分析儀,是德頻譜分析儀,安捷倫信號分析儀,函數發生器,任意波形發生器,矢量信號發生器,安捷倫網絡分析儀,半導體測試儀,半導體特性分析系統,功率器件分析儀,動態參數測試系統,星群模擬器系統,GNSS模擬器,無線通信測試儀,綜合測試儀,無線測試儀,網絡測試儀,USB協議分析儀,力議分析儀,SATA協議分析儀,以太網協議分析儀,精密阻抗分析儀,精密型LCR表,阻抗分析儀,穩科阻抗分析儀,程控直流電源,直流電源分析儀,雙通道直流電源,數字萬用表,力科邏輯分析儀,WIFI6測試系統,示波器探頭,電機驅動分析儀,串行數據分析儀,磁盤驅動分析儀,安規測試儀,耐壓測試儀,耐壓測試分析儀
本公司5月30日11時34分報道:Keithley 4200-SCS型半導體特性分析系統;(/c96719/products/d.html)產品描述
度和精度,同時集成了嵌入式Windows操作系統和吉時利交互式測試環境Interactive Test Environment,為用戶進行半導體器件特性分析提供了直觀而高的功能。它是一套功能強大的單機解決方案。要想獲取某種器件或材料的特性參數,需要三種基本的電氣測量技術。4200-SCS提供了這三種功能:
● 交流阻抗,包括大家熟知的電容-電壓(C-V)技術,能夠提供直流測量本身無法提供的器件特性。
● 脈沖和瞬態測試增加了一個時域維度,支持器件的動態特性分析。4200-SCS采用了模塊化、可配置、可升的架構。這使得它能夠準確滿足當的測量需求,并通過擴展滿足后期的需求。它的9個儀器插槽可以混合配置4種核心測量模塊。
● 多達9個精密直流源-測量單元能夠提供和測量0.1fA到1A的電壓,或者1μV到210V的電壓。
● 利用4210-CVU(C-V模塊)可以方便的在1kHz到10MHz測試頻率下進行交流阻抗測試。可以測量的電容范圍從aF到μF。
● 利用4225-PMU超快I-V模塊可以進行脈沖和瞬態測量。該模塊具有兩個獨立的電壓源,能夠以1V/ns的步幅調整電壓,輸出同時測量電壓和電流。當安裝了多個模塊時,它們內部同步的精度小于3ns。
● 選擇兩種不同的數字示波器模塊能夠方便而高效地生成數字波形。
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