當(dāng)前位置：東莞斯坦德儀器設(shè)備有限公司>>可靠信賴性測(cè)試>>德國(guó)Bruker X-射線熒光測(cè)厚儀

德國(guó)Bruker X-射線熒光測(cè)厚儀

返回列表頁(yè)

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2024-02-25 12:37:25瀏覽次數(shù)：156次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  可靠信賴性測(cè)試

全部產(chǎn)品列表

暫無(wú)信息

東莞斯坦德儀器設(shè)備有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：其他

商鋪產(chǎn)品：36條

所在地區(qū)：

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

德國(guó)Bruker X-射線熒光測(cè)厚儀

詳細(xì)介紹

M1—Mistrial X-射線熒光鍍層測(cè)厚儀
Mistrial系列是一款簡(jiǎn)潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺(tái)式熒光系統(tǒng)，用于簡(jiǎn)便、快速的鍍層厚度測(cè)試和材料分析。

Mistrial可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測(cè)定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測(cè)量。

主要特點(diǎn)包括：;
?成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
?可完成至多12層鍍層（另加底材）和25個(gè)元素的鍍層厚度測(cè)試，
?的多元素辨識(shí)，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數(shù)22號(hào)）到鈾（92號(hào)）各元素

使用廣受推崇的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù), Mistrial可實(shí)現(xiàn)如下測(cè)試要求：
?符合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測(cè)量鍍層厚度
?符合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：X射線光譜儀測(cè)量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
?至多同時(shí)分析25種元素

如需了解詳細(xì)產(chǎn)品規(guī)格資料，煩請(qǐng)不吝來(lái)電！

關(guān)鍵詞：鍍層測(cè)厚儀電子元器件光譜儀

其他推薦產(chǎn)品更多>>