成都中冷低溫科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-28 在線留言
詳細(xì)摘要： Small Burn in Test system 芯片老化測(cè)試，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-28 在線留言
詳細(xì)摘要： 導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng)搭配 HAST老化試驗(yàn)箱，導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)可與zonglen HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證...
產(chǎn)品型號(hào)：zonglen所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-27 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST半導(dǎo)體高加速老化測(cè)試系統(tǒng)，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： RF射頻芯片的HAST高加速老化測(cè)試 試驗(yàn)箱，HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速壽命試驗(yàn)機(jī)Hirayama系統(tǒng)檢漏維修，成都中冷低溫科技有限公司是一家創(chuàng)新型科技企業(yè)，擁有一支專業(yè)知識(shí)扎實(shí)、實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)豐富的年輕團(tuán)隊(duì)，主要成員來至于...
產(chǎn)品型號(hào)：PC-422R8所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 高加速老化HAST箱HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Oven，HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 高加速老化測(cè)試HAST Burn-in system，HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST測(cè)試機(jī)HAST加速老化測(cè)試設(shè)備試驗(yàn)箱，HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 日本愛思佩克Espec高加速老化HAST維修，成都中冷低溫科技有限公司是一家創(chuàng)新型高科技企業(yè)，擁有一支專業(yè)知識(shí)扎實(shí)、實(shí)戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn)豐富的年輕團(tuán)隊(duì)，主要成員來至于國(guó)內(nèi)外...
產(chǎn)品型號(hào)：不限型號(hào)所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng) 高低溫冷熱沖擊箱，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) ...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： Small Burn in Test system芯片老化測(cè)試，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)Small Burn-in Tester，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 沖擊箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) PCB...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： BHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測(cè)試 試驗(yàn)箱，BHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測(cè)試，bHAST溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測(cè)試（Bias Highly Accelerate...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-04-16 在線留言
詳細(xì)摘要： IGBT-HAST試驗(yàn)箱 高加速老化，HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗(yàn)設(shè)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-04-16 在線留言
詳細(xì)摘要： ECM-HAST絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-04-16 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST/B-HAST高加速壽命老化測(cè)試系統(tǒng)，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-04-16 在線留言
詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體芯片HAST測(cè)試，HAST高加速壽命試驗(yàn)箱是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度:壓力的各種條件...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-04-16 在線留言
詳細(xì)摘要： BHAST（偏壓）加速老化試驗(yàn)箱，評(píng)估系統(tǒng),絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1～1000小時(shí)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-04-16 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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