賽默飛電感耦合等離子體質譜儀ELEMENT2/XR可以同時分析周期表中的幾乎所有元素，濃度范圍從mg/L到pg/L ；兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品。利用高分辨率直接分析有干擾的同位素；的確信不含干擾的元素圖譜；瞬時信號的多元素檢出器；并能與多種進樣和分離技術聯用，例如激光進樣。目前，已經安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺，服務于環境監測、核科學、地球科學、材料科學等各個領域。
賽默飛電感耦合等離子體質譜儀ELEMENT2/XR是獲得認可的痕量元素分析和定量的高效技術。 其應用范圍從半導體工業到地質和環保分析、從生物研究到材料科學。 ICP-MS嚴重的限制是元素信號的多原子干擾，這種干擾主要來自氬或樣品基質。 高質量分辨率是識別和消除干擾的標準。 即使沒有樣品制備步驟，消除干涉也能準確可靠地進行痕量級多元素定量分析。
ELEMENT XR主要特點：
●線性范圍寬：線性范圍達12個數量級，不同模式自動切換校正；
●靈敏度高：可使用賽默飛新的Jet接口技術，提供的靈敏度；
●具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質譜干擾的同位素。
ELEMENT 2主要特點：
1、具備多元素分析能力
●多元素檢測器具備處理瞬態信號(包括CE、HPLC、GC、FFF和激光燒蝕)的速度
●從超痕量到基質組分、從mg/L到亞pg/L濃度范圍的覆蓋周期表的無干擾測量
●與無機和有機固體以及幾乎所有溶液基質兼容
2、全自動的常規分析
●自動調節所有參數，包括透鏡、氣流和炬位，以獲得可重復而可靠的系統設置
●全面、可定制的質量控制系統
●可靠耐用，可作為全年無休的生產控制工具，樣品通量
3、具有靈活性和易用性的*研究工具
●擁有權限進入方法開發的所有儀器參數
●具有高質量分辨率，可識別受干擾的同位素光譜： 生成明確的元素光譜
●無論是否存在干擾情況，也能獲得高精度的同位素比檢測
●熱和冷等離子體狀態
●高穩定性的同位素比
