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熒光光譜儀-光致發(fā)光

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產(chǎn)品型號PL-Mapping

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更新時間：2022-07-08 14:02:51瀏覽次數(shù)：1236次

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  光譜儀器系列

激光器

熒光光譜分析儀（系統(tǒng)）

拉曼光譜分析儀

光譜測量應(yīng)用系統(tǒng)

光譜儀、光柵光譜儀、單色儀

*光源

光譜測量用探測器

全部產(chǎn)品列表

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北京卓立漢光儀器有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：400條

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產(chǎn)品簡介

采用Photon Systems公司自行研發(fā)的深紫外激光器作為激發(fā)光源，通過儀器內(nèi)置的門閘積分平均器（Boxcar）進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，實現(xiàn)微弱脈沖信號的檢測。

詳細(xì)介紹

寬帶隙小型深紫外PL-Mapping（光致發(fā)光）光譜儀

光致熒光光譜測量是半導(dǎo)體材料特性表征的一個被普遍認(rèn)可的重要測量手段。MiniPL為模塊化設(shè)計、計算機自動控制的高靈敏度、寬帶隙小型PL（光致熒光）光譜儀；MiniPL采用Photon Systems公司自行研發(fā)的深紫外激光器224nm（5.5eV）或248.6nm（5eV）作為激發(fā)光源，配合*的光路設(shè)計，采用高靈敏度PMT作為探測器件，并通過儀器內(nèi)置的門閘積分平均器（Boxcar）進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，實現(xiàn)微弱脈沖信號的檢測。MiniPL可被用表征半導(dǎo)體材料摻雜水平分析、合成組分分析、帶隙分析等，不僅可用于科研領(lǐng)用，更可用在半導(dǎo)體LED產(chǎn)業(yè)中的品質(zhì)檢測。

主要規(guī)格特點：
■ 采用5.5（224nm）或5.0 eV（248.6nm）深紫外激光器
■ 室溫PL光譜測量范圍：190~650nm（標(biāo)準(zhǔn)），190~850nm（選配）
■ 高分辨率：0.2nm（@1200g/mm光柵，標(biāo)配），
0.07nm（@3600g/mm光柵，選配）
■ 門閘積分平均器（Boxcar）進(jìn)行微弱脈沖信號的檢測
■ 可實現(xiàn)量子效率測量
■ 基于LabView的界面控制
■ 光譜分析軟件可獲得光譜帶寬、峰值波長、峰值副瓣鑒別、光譜數(shù)據(jù)運算、歸一化等
■ zui大可測量50mm直徑樣品，樣品可實現(xiàn)XYZ三維手動調(diào)整（標(biāo)準(zhǔn)）
■ 可選配自動樣品掃描裝置，實現(xiàn)Mapping功能
■ 可用于紫外拉曼光譜測量
■ 高度集成化，體積：15 ×18 × 36cm，重量：<8kg

產(chǎn)品列表

型號	規(guī)格描述
MiniPL 5.0eV	NeCu激光器（248.6nm）,三維手動調(diào)節(jié)樣品臺，單光柵1200g/mm, PMT （190~650nm），驅(qū)動及軟件；
MiniPL 5.5eV	HeAg激光器（224.0nm） ,三維手動調(diào)節(jié)樣品臺，單光柵1200g/mm, PMT （190~650nm），驅(qū)動及軟件；
升級選項
光電倍增管選項	升級為190-850nm
光柵選項	增加第二塊光柵（3600g/mm）
Mapping功能選項	升級為X-Y自動掃描樣品臺
低溫制冷選項	4K，6.5K，10K低溫制冷樣品室，低震動設(shè)計，振幅小于5nm （選配低溫選項時不能同時進(jìn)行Mapping測量）