X-ray膜厚儀是天瑞儀器結合20多年的X熒光研發經驗，集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術，研制出具有自主知識產權的，性價比優的金屬電鍍層厚度檢測儀。

X-ray膜厚儀鍍層厚度測試方法般有以下幾種方法：

1、光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005

3、庫侖法，此法般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

測量標準

1標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

性能優勢

1.性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的性更高。

2.滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

3.快速：40S就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。

4.無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。

5.直觀：實時譜圖，可直觀顯示產品測試點

6.簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。

7.性價比高：相比其他類類儀器，x熒光鍍層測厚儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。