X 射線熒光測量系統，非接觸涂層測厚儀，用于在光滑和壓印（包括帶有鑄模接觸面）的軸帶生產過程中，在線涂層測厚儀，進行連續的在線測量和分析
特點
- 用于在持續生產過程中對薄膜、軸帶和沖壓帶上的涂鍍層進行連續測量
- 可按照樣品運動方向正確調整測量頭的角度
- 操作簡單，電鍍層測厚儀，設置時間短
- X射線探測器可以為比例計數管，x熒光涂層測厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測器
- 有定位裝置，phynix涂層測厚儀，用于測量多個位置進行測量
- 根據客戶需要專門設計
- 自動校準
- 可以快速地從一條生產線上轉移到另一條生產線
- 可方便地集成到質量控制系統和過程控制系統中
典型應用領域
- 電鍍條帶，涂層測厚儀檢定，例如接觸點、沖壓帶
- 測量熱鍍鋅鋼帶
- 太陽能薄膜電池（光伏產業
- 薄膜和條帶上的金屬涂鍍層
- 電子工業及其供應商
- 生產過程監控
