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BOE腐蝕機是半導體制造中用于精準去除晶圓表面氧化層(如SiO?、SiN?)的關鍵設備,基于緩沖氧化物刻蝕液(HF與NH?F混合溶液)的化學濕法工藝,實現各向同性腐蝕與納米級速率控制。
BOE腐蝕機是半導體制造中用于高精度去除晶圓表面氧化層(如SiO?、SiN?)的關鍵設備,其核心基于緩沖氧化物刻蝕液(BOE,由氫氟酸HF與氟化銨NH?F按比例混合而成)的化學濕法工藝。以下是對該產品的詳細介紹:
技術原理與核心功能
通過HF提供氟離子(F?)攻擊氧化層中的硅原子,生成可溶的氟硅化合物(如SiF?2?),而NH?F作為緩沖劑維持溶液pH穩定,確保蝕刻速率均勻可控35。其核心功能包括:
各向同性腐蝕:對SiO?的蝕刻速率遠高于硅基底,實現選擇性去除氧化層,避免損傷底層材料。
納米級速率控制:通過溫度(±0.1℃)、濃度(±0.5%)及流體動力學的閉環調節,實現腐蝕速率誤差<±0.5nm/min。
多場景適配:支持TSV硅通孔、MEMS腔體釋放、功率器件背面減薄等工藝需求,兼容6-12英寸晶圓。
結構設計與自動化能力
封閉式腔體與流體優化:采用耐腐蝕材料(如PTFE、聚丙烯)制成的內槽,配備槽內勻流板和循環泵系統,確保腐蝕液均勻分布,減少氣泡附著24。部分設備集成氮氣鼓泡裝置,進一步提升液體流動性和蝕刻一致性。
高精度定位與傳輸:配備機械臂自動上料系統,支持FOUP(前開式晶圓盒)直接對接,避免人工污染;雙腔體交替作業設計可提升產能至120片/小時(8英寸晶圓)。
智能控制系統:基于PLC與工業電腦的控制系統,實時監測溫度、濃度、液位等參數,并支持光學終點檢測,自動停止蝕刻以防止過度腐蝕。
環保與安全特性
廢液處理與回收:BOE廢液經三級過濾(離子交換+蒸餾)后回收率>85%,降低危廢成本,符合環保要求。
安全防護機制:配備泄漏檢測傳感器、緊急排風裝置及化學品溢出防護機制,確保操作安全性,符合SEMI S8標準。
應用場景與優勢
典型工藝:
光刻膠剝離后清洗:去除殘留SiO?層,為后續金屬鍍膜或刻蝕做準備。
氮化硅刻蝕:用于MEMS傳感器、功率器件中的SiN?層圖形化。
制程:3D NAND閃存的垂直孔洞刻蝕、GAA晶體管的高深寬比結構加工。
核心優勢:
高效均勻性:通過CFD流體仿真優化噴淋路徑,實現晶圓表面腐蝕均勻性<±1.5%(6英寸晶圓)。
低能耗設計:采用節能型電機和溫控系統,降低運行成本。
定制化配方:可根據需求調整BOE配比(如6:1 BOE蝕刻速率約10nm/s),或添加表面活性劑、納米粒子以改善潤濕性及孔洞填充能力。
BOE腐蝕機憑借其精準的化學控制、高度自動化及環保設計,成為半導體制造中的設備,廣泛應用于中芯國際、長江存儲等產線,助力制程(如3nm以下節點)的氧化層圖形化與缺陷控制14。未來,隨著配方優化(如低表面張力添加劑)和智能化升級(如AI驅動的參數優化),其將在提升蝕刻均勻性、降低深孔結構缺陷方面發揮更大作用。
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